1.一种光学元件损伤测试方法，其特征在于，所述方法包括：S01：由单一光源泵浦光通过转换模块同时获取成像光源一、成像光源二和成像光源三；

S02：由第一生成模块根据所述成像光源一生成元件表面损伤图像；

S03：由接收CCD一根据所述成像光源二生成元件表面图像；

S04：由接收CCD二根据所述成像光源三生成多张元件表面细节图像；

S05：由图像生成模块根据所述元件表面损伤图像、所述元件表面图像、所述元件表面细节图像生成元件损伤整体图，并对所述元件损伤整体图上的损伤部位进行标记显示；

其中，所述成像光源一包括两束泵浦光，且两束泵浦光分别从待测光学元件的两端同时射入，系统根据所述两束泵浦光的反射情况生成所述元件表面损伤图像；

其中，所述成像光源二为所述泵浦光通过分光装置得到的，所述成像光源二经过反射成像后，系统根据所述成像光源二的反射成像生成所述元件表面图像；

其中，所述成像光源三为所述泵浦光通过分光装置和聚焦装置后生成的，所述成像光源三经过反射成像后，系统根据所述成像光源三的反射成像生成所述元件表面细节图像。

2.一种光学元件损伤测试装置，其特征在于，所述装置包括：成像光源生成模块：根据泵浦光获取成像光源一、成像光源二和成像光源三；

第一生成模块：由所述成像光源一生成元件表面损伤图像；

第二生成模块：由所述成像光源二生成元件表面图像；

第三生成模块：由所述成像光源三生成多张元件表面细节图像；

图像生成模块：根据所述元件表面损伤图像、所述元件表面图像、所述元件表面细节图像生成元件损伤整体图，并对所述元件损伤整体图上的损伤部位进行标记显示。

3.根据权利要求2所述的一种光学元件损伤测试装置，其特征在于，所述成像光源生成模块包括多个分光片、聚焦装置、和正透镜，所述成像光源生成模块将泵浦光分割成所述成像光源一、所述成像光源二和所述成像光源三。