1.一种透气纳米膜表面材料脱落检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1，准备一检测装置，所述检测装置包括：实验系统，包括用于放置待测透气纳米膜的实验台、设置在所述实验台上的多个排气管、位于所述实验台上方的固定板和设置在所述固定板上的多个进气管，所述进气管位于所述排气管的正上方，所述进气管用于往所述排气管内输送气体；

供气系统，包括安装在所述实验台上的气体发生装置，所述供气系统用于给所述进气管供气；以及，

检测系统，包括安装在所述排气管上的激光粒子计数器和流量计，所述激光粒子计数器用于对排气管内的纳米粒子进行计数，所述流量计用于测量所述排气管内空气的流量以及流速；

还包括驱动装置，所述进气管可在所述驱动装置的作用下靠近所述排气管或远离所述排气管；

所述排气管上方设置有连接柱，所述固定板上开设有多个通槽，所述通槽内设置有与所述连接柱螺纹连接的螺纹块，所述连接柱的底部连接有连接筒，所述连接筒的底端开设有开口，所述进气管的一端固定连接在所述连接筒内，所述连接筒的底部固定连接有环形刀片，所述环形刀片用于将待测透气纳米膜切割为圆形；

所述实验台上开设有用于给所述环形刀片让位的通孔，所述排气管位于所述通孔内、且固定在所述实验台上，所述排气管的顶端与所述实验台的台面齐平；

所述连接筒内设置有压环，所述压环套在所述进气管上，所述连接筒上套有调节环，所述调节环螺纹连接在所述连接筒上，所述调节环的内侧开设有环形槽，所述压环上固定连接有连接板，所述连接板的一端位于所述环形槽内，所述连接筒上开设有用于给所述所述连接板让位的让位槽；

所述连接筒可转动地连接在所述连接柱的底端，所述固定板的底侧固定连接有用于限制所述连接筒转动的限位杆，所述连接筒的上半部固定连接有滑块，所述限位杆的一端开设有与所述滑块相配合的滑槽；

所述螺纹块由两个半螺纹块组成，所述通槽内壁上设置有多个弹簧，所述弹簧的一端连接在所述半螺纹块上，另一端连接在所述通槽的内壁上，多个所述弹簧用于将两个所述半螺纹块拼成一个完整的螺纹块，两个所述半螺纹块的顶部和底部均固定连接有弧形挡板，所述固定板上设置有用于推动所述弧形挡板远离所述连接柱的撑开机构；

所述撑开机构包括可转动地设置在所述固定板上的转轴、固定连接在所述转轴上的两个第一连接杆、与所述第一连接杆远离所述转轴的一端铰接地第二连接杆和与所述第二连接杆铰接的L形推杆，所述推杆一端与所述弧形挡板固定连接，所述固定板上还安装有用于限制所述L形推杆移动方向的套环；

所述固定板内开设有空腔，所述气体发生装置通过连接管连接有用于调节空气温度湿度的温湿调节装置，所述连接管上还安装有流量调节装置，所述温湿调节装置的出气管连接至所述空腔内，多个所述进气管分别通过送气管与空腔连通；

所述实验系统还包括尾气接收装置，所述排气管的排气端与所述尾气接收装置连通，且所述排气管的排气端设有允许气体通过而截留纳米粒子的截留垫；

所述驱动装置为气缸，所述气体发生装置为空气压缩机；

S2，将整张的待测透气纳米膜铺在实验台上，然后通过气缸带动固定板下降，在固定板开始下降到进气管压在排气管上的过程中，环形刀片将待测透气纳米膜切割为圆形，压环将透气纳米膜的周边往下压，使得圆形透气纳米膜的中间部分被均匀拉伸；

S3，启动气体发生装置，空气在温湿调节装置的作用下调至合适的温度湿度，然后进入空腔内，再通过送气管进入进气管内，气体穿过待测透气纳米膜并将待测透气纳米膜表面脱落的纳米材料带进入排气管内；

S4，激光粒子计数器计量纳米材料的颗粒数，实现了对透气纳米膜表面纳米材料脱落的精准计数，截留垫将纳米材料截下便于后续实验分析，气体通过截留垫进入尾气接收装置内；

S5，当某一待测纳米膜出现损坏问题时，其排气管上的警示灯闪烁；

S6，实验人员先关闭送气管上的阀门，接着用一只手转动转轴驱动撑开机构，分开两个半螺纹块，另一只手往上拉动连接柱，然后取下损坏的透气纳米膜，换上新的；

S7，将连接柱放回，在进气管接近排气管时，松开转动转轴的手，两个半螺纹块在弹簧的作用下组成一个完整的螺纹块；

S8，转动连接柱，连接筒在限位杆的作用下只向下移动，最终进气管隔着待测透气纳米膜压在排气管上；

S9，待未更换待测透气纳米膜的检测完成后，关闭其送气管上的阀门，让气体发生装置单独为这一个供气，通过流量调节装置调节至合适流量，等待检测完成。