1.一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：包括

底座(1)，其上方设有两个支脚(2)；

柱体(3)，其固定于底座(1)，且柱体(3)位于两个支脚(2)之间，所述柱体(3)内部设有贯穿其两端的通孔(4)，所述通孔(4)的内壁沿其中轴线方向均匀设有若干检测区，每个所述检测区对应不同的检测项目；

轴体(6)，其两端分别与支脚(2)通过轴承连接，所述轴体(6)的中轴线与通孔(4)的中轴线重合；

第一电机(7)，其通过固定件固定于其中的一个支脚(2)，且其输出轴与轴体(6)的一端通过联轴器连接；

与检测区数量相等的支撑柱(14)，所述支撑柱(14)的上端面设有限位槽(22)，用于放置待检测的芯片；

联动柱(16)，每个所述支撑柱(14)的下方至少设于两个所述的联动柱(16)，所述联动柱(16)的两端分别设有转动轴，且其中一端的转动轴与支撑柱(14)的下侧面转动连接，另一端的转动轴与轴体(6)侧表面的凸块转动连接；

驱动部，所述驱动部与支撑柱(14)动力连接，用于驱动放置于限位槽(22)的待检测芯片与检测区相结合，从而对待检测芯片进行检测。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：包括检测块(5)，所述检测区内设有若干所述的检测块(5)。

3.根据权利要求2所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：包括匹配板(21)，所述匹配板(21)的上端面设有与检测块(5)相对应的定位槽(23)，所述定位槽(23)的大小与待检测芯片的大小相等，用于放置待检测芯片，所述限位槽(22)分为开口槽和匹配槽，所述匹配槽位于开口槽的下方，且匹配槽的宽度大于开口槽的宽度，在将待检测芯片放置于定位槽(23)中后，使匹配板(21)与匹配槽相结合。

4.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：所述定位槽(23)的宽度大于开口槽的宽度。

5.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：所述限位槽(22)的一侧贯穿支撑柱(14)的一端，所述匹配板(21)的长度大于限位槽(21)的长度，所述匹配板(21)与匹配槽相结合后，匹配板(21)的一端延伸至通孔(4)的外部。

6.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：包括提示灯(24)，所述定位槽(23)的四周设有与检测区相对应的所述的提示灯(24)。

7.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：包括磁铁(20)，所述磁铁(20)设置于限位槽(22)的端部内，用于在匹配板(21)与匹配槽相结合后，对匹配板(21)的一端产生吸力。

8.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：所述驱动部包括第二电机(8)、转轴(9)、驱动块(12)、圆环(13)、驱动柱(15)和联动块(17)，所述轴体(6)的另一端内部设有轴孔(10)，所述轴孔(10)的中轴线与轴体(6)的中轴线重合，所述转轴(9)与轴孔(10)转动连接，所述第二电机(8)通过固定件固定于另一个支脚(2)，其输出轴与转轴(9)的一端通过联轴器连接，所述轴体(6)的侧表面设有若干滑槽(11)，所述滑槽(11)与轴孔(10)连通，所述驱动块(12)设有穿孔(19)，且其通过穿孔(19)与轴体(6)滑动连接，所述穿孔(19)的侧壁设有与滑槽(11)相对应的联动块(17)，所述联动块(17)与滑槽(11)滑动连接，联动块(17)朝向转轴(9)的端面与转轴(9)螺纹连接，所述驱动块(12)的外侧面设有环槽(18)，所述圆环(13)套接于环槽(18)，并与环槽(18)转动连接，所述驱动柱(15)的一端与支撑柱(14)的下端铰接，驱动柱(15)的另一端与圆环(13)的外侧表面铰接。