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专利号: 2019108914761
申请人: 河南大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 基本电气元件
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于钛掺杂五氧化二钒空穴注入层的正置型QLED器件的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)清洗含有透明电极的玻璃基底;

(2)在透明电极上旋涂空穴注入层,所述空穴注入层为Ti-V2O5薄膜层;

(3)在空穴注入层上旋涂空穴传输层;

(4)在空穴传输层上旋涂量子点发光层,所述量子点发光层的材料为ZnCdSeS/ZnS量子点;

(5)在量子点发光层上旋涂电子传输层ZnO;

(6)在电子传输层ZnO上蒸镀顶电极,待器件蒸镀完成后,对其进行封装即可;

所述的透明电极为ITO电极;所述的空穴传输层为PVK、TFB、poly-TPD、TCTA、CBP中的一种或几种;所述顶电极为Al、Ag、Cu、Au或合金电极。

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,TFB在使用前,通过将TFB粉末溶解于氯苯,制备成浓度为8 mg/mL的溶液,再通过旋涂的方法制备成TFB薄膜,备用。

3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(5)中在QLED器件制备前,通过将粒径为10 nm的ZnCdSeS/ZnS绿光量子点溶解于正辛烷,制备成浓度为18 mg/mL的溶液,再通过旋涂的方法制备成量子点发光薄膜,备用。

4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(6)中在QLED器件制备前,通过将粒径为3-4 nm的ZnO溶解于乙醇中,制得浓度为30 mg/mL的ZnO溶液,并通过旋涂的方法制备得到ZnO薄膜,备用。

5.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中所述Ti-V2O5薄膜层的制备过程如下:首先将钒的前驱体与异丙醇按照1:(60-80)的体积比混合制备V2O5的前驱体溶液,然后再将V2O5的前驱体溶液与钛的前驱体混合制备Ti-V2O5溶液,再利用旋涂法制备Ti-V2O5薄膜层,旋涂时间50-80s,并进行紫外-臭氧处理,将处理后的Ti-V2O5薄膜层作为器件的空穴注入层。

6.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述钒的前驱体为三异丙醇氧钒,钛的前驱体为四异丙醇钛。

7.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,V2O5的前驱体溶液与四异丙醇钛的体积比为0-1.5%。

8.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,旋涂时的转速为3000-5000 rpm/min。

9.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述紫外-臭氧处理时间为0-15min。

10.采用权利要求1-9任一所述方法制备的基于钛掺杂五氧化二钒空穴注入层的正置型QLED器件。