1.一种光学元件亚表面缺陷深度信息的检测装置，其特征在于：由光源调制组件、缺陷深度检测组件、二维移动平台（5）以及计算机控制平台组成，所述光源调制组件的光路垂直于二维移动平台（5）布置，从上至下依次包括紫外激光器（1）、窄带滤光片（2），光束整形组件（3）；所述缺陷检测组件的光路与光源调制组件的光路成夹角布置，依次包括窄带滤光片（6），显微镜头（7）和CCD探测器（8）；计算机控制平台（9）分别与CCD探测器（8）和二维移动平台（5）相连。

2.如权利要求1所述装置进行非破坏性光学元件亚表面缺陷深度的检测方法，其特征在于：首先将亚表面缺陷中渗有量子点的被测件（4）放置于二维平移台（5）上，紫外激光器（1）发射紫外激光先通过窄带滤光片（2）筛选所需波长，再通过光束整形组件将激光整形为细光束，穿过被测件（4）的表面激发渗入样件亚表面的量子点；被测件（4）内部的量子点受激产生散射荧光信息，经过窄带滤光片（6）筛选波长后通过显微镜头（7）成像于CCD探测器（8）；计算机控制平台（9）根据CCD成像信息，结合CCD相机标定结果，得到被测件亚表面缺陷的深度信息，同时，计算机控制平台（9）可以控制二维位移平台（5）实时运动，得到被测样件（8）的不同位置亚表面缺陷的实时光场分布。