1.一种多芯光纤位移量测组件，其特征在于，包括一单模光纤以及一多芯光纤，该多芯光纤同轴地熔接在该单模光纤的一端，在该单模光纤与该多芯光纤的熔接处加工形成一截面积缩小的细化部，于该多芯光纤背离该细化部处切割形成一发射接收面；所述发射接收面与所述多芯光纤的轴心为垂直或大于5度的倾斜角度；当发射接收面是垂直面或大于5度的倾斜面时，由于消光比高，待测物的反射效果不好时反射光由光谱仪显示的波长频谱及其变化仍能够清晰地分辨。

2.如权利要求1所述多芯光纤位移量测组件，其特征在于，所述细化部的直径为125微米以下30微米以上。

3.如权利要求2所述多芯光纤位移量测组件，其特征在于，所述发射接收面切割形成于所述多芯光纤距离所述细化部1至2公分处。

4.一种多芯光纤位移量测系统，其特征在于，包括一光纤耦合器以及分别连接在该光纤耦合器的一多芯光纤位移量测组件、一光谱仪，以及一光源，其中：该多芯光纤位移量测组件包括一单模光纤以及一多芯光纤，该多芯光纤同轴地熔接在该单模光纤的一端，在该单模光纤与该多芯光纤的熔接处加工形成一截面积缩小的细化部，于该多芯光纤背离该细化部处切割形成一发射接收面，该单模光纤的另一端连接该光纤耦合器；所述发射接收面与所述多芯光纤的轴心为垂直或大于5度的倾斜角度；当发射接收面是垂直面或大于5度的倾斜面时，由于消光比高，待测物的反射效果不好时反射光由光谱仪显示的波长频谱及其变化仍能够清晰地分辨。

5.如权利要求4所述多芯光纤位移量测系统，其特征在于，所述细化部的直径为125微米以下30微米以上。

6.如权利要求5所述多芯光纤位移量测系统，其特征在于，所述发射接收面切割形成于所述多芯光纤距离所述细化部1至2公分处。

7.如权利要求4所述多芯光纤位移量测系统，其特征在于，所述光纤耦合器是50:50耦合比的3dbY型光纤耦合器。

8.如权利要求4所述多芯光纤位移量测系统，其特征在于，所述光源是宽频带光源。