1.一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，包括机壳（1）、护垫（11）和转动杆（25），其特征在于：所述机壳（1）的一侧表面设置有引线接口（2），所述引线接口（2）的相邻一侧设置有测试口（3），其中，所述引线接口（2）和测试口（3）的外侧设置有防尘盖（4），所述防尘盖（4）通过转轴（5）和机壳（1）固定，所述机壳（1）远离测试口（3）的一侧安装有散热口（6），所述机壳（1）的两端开设有连接槽（7），所述连接槽（7）的相邻一侧设置有凸柱（8），所述凸柱（8）上连接有手柄（9），所述连接槽（7）远离凸柱（8）的相邻位置和机壳（1）顶部的一侧开设有卡槽（10），所述护垫（11）通过卡条（12）连接在卡槽（10）内；

所述机壳（1）的底部一侧设置有底座（13），所述机壳（1）的底部的中央位置设置有连接架（14），所述连接架（14）的内部连接有抽屉（15），所述机壳（1）底部远离底座（13）的一侧固定有合页（16）的一端，所述合页（16）的另一端固定有齿轮盒（17），所述齿轮盒（17）的一侧连接有螺纹杆（18），所述螺纹杆（18）连接在固定板（19）内部的滑槽（20）中，所述螺纹杆（18）伸出固定板（19）的一端连接有第一旋钮（21）；

所述齿轮盒（17）的内部一端连接有直齿轮（22），所述直齿轮（22）伸出齿轮盒（17）的一端连接有第二旋钮（23），所述直齿轮（22）的一端和盘齿（24）的一端进行连接，所述转动杆（25）贯穿连接在盘齿（24）的内部，所述转动杆（25）伸出齿轮盒（17）的外侧一端连接进支架（26）内部的螺纹孔（27）中，所述支架（26）的外侧两端设置有伸出架（28），所述齿轮盒（17）底部的导向杆（29）贯穿连接进伸出架（28）的内部。

2.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述防尘盖（4）为透明塑料材质，且防尘盖（4）的截面尺寸小于机壳（1）的截面尺寸，并且防尘盖（4）通过转轴（5）和机壳（1）之间构成旋转结构。

3.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述卡槽（10）设置有两组共八个，且两组所述卡槽（10）关于机壳（1）的竖直中心截面对称分布，并且卡槽（10）的截面形状为“凸”状，而且卡槽（10）的截面尺寸和卡条（12）的截面尺寸相吻合。

4.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述螺纹杆（18）的长度大于固定板（19）和第一旋钮（21）的厚度，且螺纹杆（18）的直径和滑槽（20）的宽度相吻合，并且螺纹杆（18）的截面尺寸和第一旋钮（21）的内部截面尺寸相匹配，而且螺纹杆（18）和第一旋钮（21）之间构成螺纹结构。

5.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述滑槽（20）的形状为圆弧状，且滑槽（20）的弧度为90°，并且滑槽（20）的圆心交于合页（16）的中心线上。

6.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述盘齿（24）的尺寸小于齿轮盒（17）的内部尺寸，且盘齿（24）和直齿轮（22）之间相互啮合连接。

7.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述支架（26）的形状为倒置的“T”字型，且支架（26）关于机壳（1）的竖直中心线对称分布，并且支架（26）内部的转动杆（25）表面设置有螺纹，而且支架（26）内部螺纹孔（27）的截面尺寸和转动杆（25）的截面尺寸相匹配。

8.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，其特征在于：所述导向杆（29）的长度大于螺纹孔（27）的深度，且导向杆（29）的截面尺寸和伸出架（28）的内部截面尺寸相吻合，并且导向杆（29）关于支架（26）的中心线对称分布。

9.一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的应用，其特征在于：首先，将支架26的螺纹孔27对准转动杆25，并且将伸出架28对接到导向杆29上，同时转动第二旋钮23使得直齿轮22和盘齿24进行啮合传动，转动的盘齿24带动转动杆25将支架26和伸出架28连接到转动杆25和导向杆29上，然后，在需要将该测试仪器进行搬运携带时，通过双手插入连接槽7中搬运机壳1，或者拉动手柄9带动机壳1移动到指定位置进行摆放，同时转动齿轮盒17使得合页16在机壳1的底部旋转，并且带动螺纹杆18在滑槽20中转动位置，当齿轮盒17转动到支架

26垂直在机壳1的底部位置时，拧紧螺纹杆18伸出固定板19一端的第一旋钮21，使得第一旋钮21将固定板19夹紧，从而将齿轮盒17的角度位置进行固定，在需要调节该测试仪器机壳1的摆放角度时，通过转动第二旋钮23使得直齿轮22和盘齿24进行啮合传动，转动杆25旋转带动支架26通过伸出架28在导向杆29上滑动，当支架26在导向杆29上移动时，改变支架26在齿轮盒17底部螺纹杆18上的伸出长度，从而改变机壳1的摆放角度，之后，该测试仪器在日常摆放时，将护垫11通过一侧的卡条12对准机壳1的卡槽10，使得卡条12卡合连接进卡槽

10中，并且使用配套螺丝将护垫11固定在机壳1顶部两端的拐角位置处，通过护垫11对机壳

1进行防碰撞保护，该测试仪器在进行日常使用时，通过转动机壳1一侧的防尘盖4，使得防尘盖4通过转轴5进行旋转，当防尘盖4将机壳1一侧的引线接口2和测试口3位置遮挡时，使得防尘盖4将外界的灰尘等杂质排除在外，通过拉动机壳1底部连接架14内的抽屉15，使得抽屉15从连接架14中抽出打开，通过将集成电路测试仪器的连接引线收纳进抽屉15中，在不使用该测试仪器时，将引线收纳盛放进抽屉15中，从而避免引线混乱摆放。