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专利号: 2019111251006
申请人: 天津农学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种减小土壤有机质对多环芳烃荧光工作曲线影响的校正方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤1:制备多个不同浓度多环芳烃、不同浓度腐殖酸的土壤样品;

步骤2:根据步骤1中不同浓度多环芳烃、不同浓度腐殖酸的土壤样品,建立相应多环芳烃浓度矩阵C;

步骤3:扫描步骤1中制备的每个土壤样品相应的荧光谱和紫外‑可见漫反射光谱,得到每个土壤样品的荧光谱和紫外‑可见漫反射光谱;

步骤4:对于步骤3中的荧光谱,选定用于建立定量分析多环芳烃工作曲线的荧光谱带A;

步骤5:对于步骤3中的紫外‑可见漫反射光谱,选定用于校正工作曲线的紫外‑可见漫反射光谱波长范围;

步骤6:对步骤5中所选择的紫外‑可见漫反射光谱波长范围的光谱曲线进行积分,得到相应的积分矩阵D;

步骤7:对步骤6中得到的积分矩阵D进行二次方根计算,得到对应的二次方根矩阵E;

步骤8:对步骤7中得到的二次方根矩阵进行e次幂计算,得到对应的修正矩阵M;

步骤9:提取步骤4中定量荧光谱带M处的荧光强度,得到相应荧光强度矩阵F;

步骤10:通过步骤8中得到的修正矩阵M对步骤9中所提取的荧光强度矩阵F进行校正,即 得到每个土壤样品的校正荧光强度矩阵Fc;

步骤11:根据步骤10得到的校正荧光强度矩阵Fc和步骤2中建立的多环芳烃浓度矩阵C,建立校正工作曲线。