1.一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：包括：待测激光源，用于发射待测激光束；

分光镜，用于接收待测激光束，并将待测激光束透射至楔形反光镜，以及反射至透镜；

楔形反光镜，用于将分光镜透射的待测激光束反射至透镜；

透镜，用于接收分光镜和楔形反光镜反射的待测激光束，并将待测激光束透射至光电探测器；

光电探测器，用于接收透镜透射的待测激光束；

处理器，与光电探测器电连接，用于检测光电探测器上产生的干涉现象。

2.根据权利要求1所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：所述楔形反光镜连接有精密位移装置，用于带动楔形反光镜在其水平方向上移动。

3.根据权利要求1所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：所述精密位移装置为无导轨的压电陶瓷电机。

4.根据权利要求3所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：所述楔形反光镜包括反光面，所述分光镜与楔形反光镜的反光面平行设置。

5.根据权利要求1-4任一项所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：所述透镜为凸透镜。

6.根据权利要求5所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：所述光电探测器设置于凸透镜的焦点处。

7.根据权利要求1所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：还包括壳体，所述基于干涉方式的激光波长测量装置设置于壳体内，且待测激光源、分光镜、透镜、光电探测器、精密位移装置分别相对于壳体固定设置。

8.一种基于干涉方式的激光波长测量方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤S1：将待测激光源、分光镜、透镜、光电探测器以及精密位移装置固定设置在壳体内；

步骤S2：开启待测激光源，移动楔形反光镜的位置，使得楔形反光镜能接收到待测激光束；

步骤S3：控制精密位移装置带动楔形反光镜在水平方向/垂直方向上移动，使得光电探测器上产生相长干涉/相消干涉现象，处理器记录楔形反光镜的位移量X1；

步骤S4：继续控制精密位移装置带动楔形反光镜在水平方向/垂直方向上移动，直到光电探测器上产生下一个相长干涉/相消干涉现象，处理器记录楔形反光镜的位移量X2；

步骤S5：处理器根据楔形反光镜两次水平移动/垂直移动的位移量以及楔形反光镜的反光面与水平方向上的角度、入射至反光面的待测激光束与反光面的角度，计算出待测激光束的波长。

9.根据权利要求8所述的一种基于干涉方式的激光波长测量方法，其特征在于：所述步骤S1中将分光镜与楔形反光镜的反光面平行设置。

10.根据权利要求8所述的一种基于干涉方式的激光波长测量方法，其特征在于：所述步骤S1中将光电探测器设置于透镜的焦点处。