1.一种基于金属‑介质‑金属的增强吸收的结构，其特征在于，所述结构包括：金属基底和嵌套部，所述嵌套部周期性地设置在所述金属基底上；

所述嵌套部包括第一金属柱、介质层和第二金属柱，且所述第一金属柱为实心结构，所述介质层和所述第二金属柱均为空心结构，所述介质层嵌套在所述第一金属柱外部，所述第二金属柱嵌套在所述介质层外部；

还包括石墨烯薄膜，所述石墨烯薄膜覆盖在所述金属基底远离所述嵌套部的一端；所述石墨烯薄膜的面积大于所述嵌套部的顶面面积；所述石墨烯薄膜四周厚、中间薄；

其中，所述第一金属柱和所述第二金属柱之间形成金属‑介质‑金属结构，入射光被限制在所述介质层内，实现强吸收。

2.根据权利要求1所述的基于金属‑介质‑金属的增强吸收的结构，其特征在于，所述金属基底的材料为金。

3.根据权利要求2所述的基于金属‑介质‑金属的增强吸收的结构，其特征在于，所述第一金属柱和所述第二金属柱的材料为金。

4.根据权利要求3所述的基于金属‑介质‑金属的增强吸收的结构，其特征在于，所述介质层的材料为二氧化硅。

5.根据权利要求1所述的基于金属‑介质‑金属的增强吸收的结构，其特征在于，所述第一金属柱、介质层和第二金属柱的形状均为长方体。

6.根据权利要求5所述的基于金属‑介质‑金属的增强吸收的结构，其特征在于，所述长方体的高度为500纳米，所述第一金属柱的边长为100纳米，所述介质层的边长为150纳米、所述第二金属柱的边长为200纳米。

7.一种基于金属‑介质‑金属的增强吸收的装置，其特征在于，所述装置包括多个权利要求1‑6任意一项所述的结构，多个结构通过金属基底固定连接。

8.一种基于金属‑介质‑金属的增强吸收的系统，其特征在于，所述系统包括：光强检测装置和权利要求7所述的增强吸收的装置，所述光强检测装置与所述增强吸收的装置连接，用于检测所述增强吸收的装置对光的吸收率。