1.一种在透射电镜中测量面心立方晶体样品里孪晶面宽度的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、建立面心立方晶体样品里孪晶面的第一模型，所述第一模型是根据投影几何获得的；

步骤二、将面心立方透射电镜样品放入电镜后，查找含有孪晶组织的薄区，将所检测晶粒倾转到<110>晶带轴；

步骤三：调节放大倍数，采集孪晶面的投影图像，包括明场图像和暗场图像，并从图像中测量出孪晶面的投影宽度；

步骤四：将步骤三中测量的孪晶面的投影宽度值代入所述第一模型中，确定透射样品中孪晶面的实际宽度。

2.根据权利要求1所述的在透射电镜中测量面心立方晶体样品里孪晶面宽度的方法，其特征在于，步骤一中，所述第一模型满足如下公式：式中，W为样品中孪晶界实际宽度(nm)，d为投影图像中孪晶面的投影宽度(nm)。

3.根据权利要求1所述的在透射电镜中测量面心立方晶体样品里孪晶面宽度的方法，其特征在于，所述面心立方晶体的孪晶面为其密排面{111}，根据描述面心立方晶体所有位错以及位错反应的汤姆森四面体，所述面心立方晶体有四个孪晶面，分别为(111)、和 根据汤姆森四面体，<110>晶向与密排面{111}具有特殊的位向关系，任意一个<110>晶向平行于其中两个{111}密排面，且与另外两个{111}密排面成相同的夹角，其中， 晶向平行于(111)面和 面，且与 面和 面成

35.26°的角度； 晶向平行于(111)面和 面，且与 面和 面成

35.26°的角度； 晶向平行于(111)面和 面，且与 面和 面成

35.26°的角度；当面心立方透射电镜样品倾转到某一<110>晶向时，能够观察到不与之平行的两个孪晶面的投影图像。