1.一种评估半导体屏蔽材料发射性能的测试装置，其特征在于，包括真空控制系统、性能测试系统，其中，性能测试系统包括测试室、测试样品、载物台、阳极、电流表、保护电阻、高压直流电源，所述测试样品固定在载物台上作为阴极，阳极接高压直流电源的正极端，测试样品接高压直流电源的阴极端，高压直流电源的阴极端接地，保护电阻和电流表串联在电路中，所述阳极、阴极均位于测试室中，所述真空控制系统控制测试室为真空状态。

2.根据权利要求1所述的一种评估半导体屏蔽材料发射性能的测试装置，其特征在于，所述真空控制系统包括控温装置和分子泵。