1.一种半导体开短路测试设备，包括测试设备本体(1)，其特征在于，所述测试设备本体(1)的顶部转动连接有支撑柱(2)，所述支撑柱(2)的一侧固定连接有卡块(3)，所述卡块(3)上滑动插设有卡杆(4)，所述测试设备本体(1)的顶部环绕设有与卡杆(4)对应的多个卡槽，所述卡杆(4)靠近测试设备本体(1)的一端固定套接有卡套(5)，所述卡杆(4)远离卡套(5)的一端固定连接有拉杆(6)，所述支撑柱(2)远离卡块(3)的一侧设有滑槽，所述滑槽内转动连接有螺杆(7)，所述螺杆(7)上螺纹套接有支撑板(8)，所述螺杆(7)的一端贯穿滑槽的内顶部并向上延伸，所述螺杆(7)延伸的一端固定连接有旋钮(9)，所述支撑板(8)远离螺杆(7)的一端设有通口，所述通口内固定连接有滑杆(10)，所述滑杆(10)上滑动套接有相对设置的两个夹持板(11)，两个所述夹持板(11)的顶部通过花篮螺丝(12)连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体开短路测试设备，其特征在于：所述卡杆(4)上套设有弹簧(13)，所述弹簧(13)的两端分别与卡套(5)和卡块(3)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种半导体开短路测试设备，其特征在于：所述夹持板(11)上设有与滑杆(10)对应的滑口，所述滑口内滑动连接有多个滚珠(14)，所述滚珠(14)的边缘与滑杆(10)相接触。

4.根据权利要求1所述的一种半导体开短路测试设备，其特征在于：两个所述夹持板(11)相对一侧的底部均固定连接有缓冲垫。

5.根据权利要求1所述的一种半导体开短路测试设备，其特征在于：所述测试设备本体(1)的顶部固定连接有与通口位置对应的置物台(15)。

6.根据权利要求1所述的一种半导体开短路测试设备，其特征在于：所述旋钮(9)上的外壁上固定套接有橡胶垫。