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专利号: 202010011012X
申请人: 南昌工程学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于局部测量的封闭空间面板声学贡献度识别方法,其特征在于,包括如下步骤:

在封闭空间内部设置两个半封闭的全息测量面,并测量两个所述全息测量面上的声压值;所述全息测量面与待测振动面板相平行;所述全息测量面与所述待测振动面板的内表面存在间距;

基于声学等效源原理,在所述封闭空间内部建立声源的等效虚拟源,所述等效虚拟源由向外声场虚源面和向内声场虚源面构成,建立两个所述全息测量面与所述向外声场虚源面和向内声场虚源面之间的传递关系,基于两个所述全息测量面上的声压值,计算所述向内声场虚源面上的源强列向量;

利用待测振动面板表面的导纳边界条件及向内声场虚源面上的源强列向量,计算向内声场虚源面入射到待测振动面板表面所产生的散射声场;基于全息测量面上散射声场与自由场条件下辐射声场的关系,还原出自由场条件下待测振动面板上的声压和法向振速;

将待测振动面板划分为若干个离散单元,通过每个离散单元表面的升压和法向振速计算每个离散单元振动产生的辐射声功率,通过求和得到待测振动面板的辐射声功率,即待测面板对封闭声场的声学贡献度。

2.根据权利要求1所述的基于局部测量的封闭空间面板声学贡献度识别方法,其特征在于,两个所述全息测量面分别为全息测量面Sh1和全息测量面Sh2,所述全息测量面Sh1和全息测量面Sh2均为与所述待测振动面板共形的半封闭面;所述全息测量面Sh2包围在所述全息测量面Sh1的外部。

3.根据权利要求2所述的基于局部测量的封闭空间面板声学贡献度识别方法,其特征在于,所述全息测量面Sh1与所述待测振动面板的间距不大于0.25λ,所述全息测量面Sh2与所述全息测量面Sh1的间距不大于0.25λ;所述全息测量面Sh1在横向和纵向上的尺寸不小于所述待测振动面板的尺寸;所述全息测量面Sh2在横向和纵向上的尺寸不小于所述全息测量面Sh1的尺寸;其中λ为测试频带的最高频率所对应的波长。

4.根据权利要求3所述的基于局部测量的封闭空间面板声学贡献度识别方法,其特征在于,所述全息测量面Sh1和全息测量面Sh2上均设有若干个声压传感器,所述声压传感器用于测量所述全息测量面Sh1和全息测量面Sh2上的声压值;所述声压传感器呈网格式分布,相邻网格点之间的距离小于0.25λ。

5.根据权利要求1所述的基于局部测量的封闭空间面板声学贡献度识别方法,其特征在于,所述向外声场虚源面设于所述全息测量面Sh1的外侧,所述向内声场虚源面设于所述全息测量面Sh2的内侧。

6.根据权利要求1所述的基于局部测量的封闭空间面板声学贡献度识别方法,其特征在于,自由场条件下待测振动面板上的声压和法向振速的具体计算方法包括:利用待测振动面板表面的导纳边界条件计算向内声场虚源面产生的向内声场与所述向内声场入射到待测振动面板表面所产生的散射声场的关系;构建散射声场虚源面,基于向内声场虚源面上的源强列向量计算散射声场虚源面上的源强列向量,从而得到散射声场在全息测量面上的声压;基于全息测量面上散射声场与自由场条件下辐射声场的关系,得到自由场条件下辐射声场在全息测量面上的声压;构建自由场条件下辐射声场虚源面,从而得到自由场条件下辐射声场虚源面上的源强列向量;基于自由场条件下辐射声场虚源面上的源强列向量得到自由场条件下待测振动面板上的声压和法向振速。

7.根据权利要求6所述的基于局部测量的封闭空间面板声学贡献度识别方法,其特征在于,所述散射声场虚源面设于所述封闭空间外部;所述散射声场虚源面与所述待测振动面板共形,所述散射声场虚源面与所述待测振动面板的间距为所述全息测量面上声压平均测量间距的1.5倍。

8.根据权利要求7所述的基于局部测量的封闭空间面板声学贡献度识别方法,其特征在于,所述自由场条件下辐射声场虚源面的位置与所述散射声场虚源面的位置相同。