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专利号: 2020100193118
申请人: 杭州电子科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-26
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种磁传感器噪声测试系统标定方法,包括如下步骤:第一步:将噪声测试系统中的低噪声放大器输入端短路,采集噪声测试系统自有噪声,生成时域波形,并对该时域波形进行数据处理;

第二步:将金属膜电阻连接在低噪声放大器输入端,采集金属膜电阻热噪声和噪声测试系统自有噪声叠加在一起的总噪声,生成时域波形,并对该时域波形进行数据处理;

第三步:结合第一步和第二步中经数据处理后的噪声时域波形,获得金属膜电阻热噪声的工程推算值;

第四步:调节噪声测试系统工作参数,进行多次测试,得到第三步中最接近金属膜电阻热噪声理论值的工程推算值;所述工作参数包括低噪声放大器的放大倍数以及数据采集卡的采集速率;

第五步:在第四步中获得最接近金属膜电阻热噪声理论值的工程推算值,并将该测试条件下经过数据处理后的时域波形转换为频域波形,提取金属膜电阻热噪声的噪声频谱;

第六步:确定第四步和第五步中噪声测试系统的工作参数,标定完成,通过标定,提高磁传感器噪声测试结果的准确度。

2.根据权利要求1所述的一种磁传感器噪声测试系统标定方法,其特征在于:所述噪声测试系统包括低噪声放大器、数据采集卡和计算机。

3.根据权利要求1所述的一种磁传感器噪声测试系统标定方法,其特征在于:在第一步和第二步中,所述的数据处理过程是对采集的数据进行FFT数字滤波,将采集的数据带宽限制为0至10kHz,并保持整个数据处理过程中带宽不变。

4.根据权利要求1所述的一种磁传感器噪声测试系统标定方法,其特征在于:在第五步中,所述的时域波形转换为频域波形的过程是首先将时域波形进行FFT,然后将金属膜电阻热噪声与噪声测试系统自有噪声叠加在一起的总噪声的功率谱与噪声测试系统自有噪声的功率谱相减,剔除噪声测试系统的自有噪声。