1.一种基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取不同典型老化地区不同运行年限的绝缘子老化样本；

S2、获取绝缘子老化样本预处理后的高光谱图像；

S3、对绝缘子老化样本进行理化测试，得到不同样本老化程度表征参量；

S4、根据不同样本老化程度表征参量，对绝缘子老化样本进行老化程度标定；

S5、对高光谱图像的特征区域进行谱线提取，并根据傅里叶红外光谱和基团的基频、倍频响应关系，得到表征复合绝缘子老化程度的不同基团在高光谱谱线上的响应特性；

S6、根据表征复合绝缘子老化程度的不同基团在高光谱谱线上的响应特性，对表征老化的不同基团的特征波段和各吸收峰进行特征参量提取，并拟合出与标定的老化程度等级对应的老化程度模型；

S7、采用老化程度模型对绝缘子老化样本进行测试，得到绝缘子老化样本的老化程度，实现对不同典型地区不同老化程度的绝缘子检测。

2.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法，其特征在于，所述步骤S2包括以下步骤：S21、对绝缘子老化样本进行清洁和切割，再对绝缘子老化样本进行图像采集，得到高光谱图像；

S22、对高光谱图像进行预处理，得到预处理后的高光谱图像。

3.根据权利要求2所述的基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法，其特征在于，所述步骤S22中预处理包括：黑白校正、多元散射校正、邻域平均法和小波去噪。

4.根据权利要求3所述的基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法，其特征在于，所述黑白校正的计算公式为：其中，RC为校正后的反射率，R0为高光谱图像数据，W为反射强度，B为全黑定标图像反射强度。

5.根据权利要求3所述的基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法，其特征在于，所述多元散射校正的计算公式为：其中，Ai(MSC)为第i个采样点的校正后光谱矢量，Ai是第i个采样点的原始光谱矢量，mi为第i个采样点的倾斜偏移量，bi为第i个采样点的线性平移量， 为样本的n×p维平均光谱数据矩阵 的第i个采样点第j个波段数的元素，Aij为第i个采样点第j个波段数光谱值，n为采样点数，p为光谱采集所用的波段数。

6.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法，其特征在于，所述步骤S3中的理化测试包括：静态接触角法、喷水分级法、扫描电镜法和傅里叶红外光谱测试。

7.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法，其特征在于，所述步骤S4具体为：根据不同样本的老化程度表征参量，提取出表征复合绝缘子老化程度的微观和宏观参量，将绝缘子老化样本标定为5个等级，所述5个等级包括：优品、良品、中品、差品和废品。

8.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法，其特征在于，所述步骤S5中得到表征复合绝缘子老化程度的不同基团在高光谱谱线上的响应特性具体为：通过傅里叶红外光谱确定表征老化程度的基团种类和基频吸收波长，根据基团的倍频与波长的关系，确定特征基团在高光谱谱线上的响应特性。

9.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法，其特征在于，所述步骤S6中特征参量包括：峰高、峰面积、吸收深度、吸收宽度和对称度；

拟合出与标定的老化程度等级对应的老化程度模型的拟合方法包括：最小二乘法和多元回归。