1.一种激光干涉位移测量装置，包括读数头，其特征在于：还包括三角波反射镜，用于接收第一分光镜透射的激光束，并将接收到的激光束进行反射；

所述读数头包括：

激光源，用于发射激光束；

第一分光镜，用于将激光源发射的激光束透射至三角波反射镜，以及反射至聚光透镜；

第二分光镜，用于接收三角波反射镜反射的激光束，并将接收到的激光束再次反射至三角波反射镜，以及透射至分光棱镜；

分光棱镜，用于接收第二分光镜透射的激光束，并将激光束透射至第一光电探测器；

第一光电探测器，用于接收分光棱镜透射的激光束；

聚光透镜，用于接收第一分光镜和三角波反射镜反射的激光束，并将接收到的激光束聚光后透射至第二光电探测器；

第二光电探测器，用于接收聚光透镜透射的激光束；

处理器，用于记录第一光电探测器上激光束入射位置点的变化，以及检测第二光电探测器上产生的干涉现象，并计算出读数头或三角波反射镜的位移量。

2.根据权利要求1所述的一种激光干涉位移测量装置，其特征在于：所述第一分光镜倾斜设置于三角波反射镜的上方，且与水平方向存在30度夹角；所述第二分光镜与第一分光镜相互平行。

3.根据权利要求2所述的一种激光干涉位移测量装置，其特征在于：所述三角波反射镜包括N个结构相同的反射结构，每个所述反射结构包括第一反射面、第二反射面，所述第一反射面或第二反射面与反射镜平行，且第一反射面与第二反射面之间存在120度夹角。

4.根据权利要求1所述的一种激光干涉位移测量装置，其特征在于：所述聚光透镜为凸透镜，且平行于水平方向设置。

5.根据权利要求1-4任一项所述的一种激光干涉位移测量装置，其特征在于：所述读数头设置于被测物体上随被测物体一起移动，且三角波反射镜固定设置；或三角波反射镜设置于被测物体上随被测物体一起移动，且读数头固定设置。

6.根据权利要求5所述的一种激光干涉位移测量装置，其特征在于：所述读数头为多个，多个所述读数头交替参与干涉条纹计数。

7.一种激光干涉位移测量装置的使用方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤S1：将三角波反射镜/读数头固定设置，并将读数头/三角波反射镜设置于被测物体上，使得读数头/三角波反射镜随被测物体一起移动，设置激光源角度，使得激光源发射的激光束与水平方向的夹角为150度；将第一分光镜、第二分光镜相互平行设置，且第一分光镜、第二分光镜与水平方向的夹角为30度；将聚光透镜设置于第一分光镜远离三角波反射镜的一侧，并使得聚光透镜能够接收到第一分光镜、三角波反射镜反射的激光束；将第二光电探测器设置于聚光透镜的焦点处，使得第二光电探测器上能接收到聚光透镜透射的两束激光束，并产生干涉现象；将分光棱镜设置于第二分光镜与聚光透镜之间，使得分光棱镜能够接收到第二分光镜透射的激光束；将第一光电探测器设置于分光棱镜和聚光透镜之间，使得第一光电探测器能接收到分光棱镜透射的激光束；

步骤S2：开启激光源，使用处理器检测第二光电探测器上产生的干涉现象，读数头/三角波反射镜随被测物体在水平方向上移动，使得第二光电探测器上产生的干涉现象为相长干涉/相消干涉，并记录此时干涉次数为0次；

步骤S3：在时间t内再次在水平方向上移动被测物体，读数头/三角波反射镜随被测物体一起移动，记录第二光电探测器上产生的相长干涉/相消干涉次数为M；

步骤S4：通过第一光电探测器上激光束入射位置点的变化计算时间t内的平均激光束波长λ；

步骤S5：根据第二光电探测器上产生的相长干涉/相消干涉次数M、激光平均波长λ，计算出被测物体第二次在水平方向上的位移量步骤S6：重复步骤S3至步骤S5，计算被测物体累计位移量。

8.一种激光干涉位移测量装置的使用方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤S1：将三角波反射镜/读数头固定设置，并将读数头/三角波反射镜设置于被测物体上，使得读数头/三角波反射镜随被测物体一起移动；

步骤S2：开启激光源，使用处理器检测第二光电探测器上产生的干涉现象，读数头/三角波反射镜随被测物体在竖直方向上移动，使得第二光电探测器上产生的干涉现象为相长干涉/相消干涉，并记录此时激光干涉次数为0；

步骤S3：在时间t内再次在竖直方向上移动被测物体，读数头/三角波反射镜随被测物体一起移动，记录第二光电探测器上产生的相长干涉/相消干涉次数为M；

步骤S4：通过第一光电探测器上激光束入射位置点的变化计算时间t内的平均激光束波长λ；

步骤S5：根据第二光电探测器上产生的相长干涉/相消干涉次数M、激光束平均波长λ，计算出读数头/三角波反射镜第二次在竖直方向上的位移量步骤S6：重复步骤S3至步骤S5，计算被测物体累计位移量。