1.一种测试电路结构，其特征在于，包括：射频模块、多个天线单元、多个天线匹配电路和阻抗匹配电路，所述射频模块通过所述天线匹配电路与对应的天线单元电连接，所述阻抗匹配电路串联在所述天线单元与所述天线匹配电路之间，所述阻抗匹配电路在所述测试电路结构中的设置位置根据需要被调试的天线单元确定，其中，所述阻抗匹配电路包括阻抗电阻与阻抗电容，所述阻抗匹配电路的GND脚接地，所述阻抗电容与所述GND脚串联连接，所述阻抗电阻与所述GND脚非串联连接。

2.根据权利要求1所述的测试电路结构，其特征在于，所述天线单元包括第一天线单元与第二天线单元，所述天线匹配电路包括第一天线匹配电路与第二天线匹配电路；所述第一天线单元通过所述第一天线匹配电路与所述射频模块电连接，所述第二天线单元通过所述第二天线匹配电路与所述射频模块电连接。

3.根据权利要求1所述的测试电路结构，其特征在于，所述测试电路结构还包括主板，所述主板与所述射频模块电连接，其中，所述阻抗匹配电路的阻抗值与主板电路的输入阻抗值相等。

4.一种天线测试方法，应用于权利要求1至权利要求3任一项所述的测试电路结构，其特征在于，包括：阻抗匹配电路按照调试对象与连接规则与多个天线匹配电路、多个天线单元电连接，生成测试电路；

调试所述天线单元。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述调试对象包括第一调试对象与第二调试对象，所述第一调试对象为第一天线单元，所述第二调试对象为第二天线单元。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述阻抗匹配电路按照调试对象与连接规则与多个天线匹配电路、多个天线单元电连接，生成测试电路，包括：所述调试对象为第一调试对象，所述阻抗匹配电路按照第一连接规则与多个天线匹配电路、多个天线单元电连接，生成第一测试电路。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一连接规则为：所述第一天线单元通过第一天线匹配电路与所述射频模块电连接；所述第二天线单元与所述阻抗匹配电路电连接，所述阻抗匹配电路通过第二天线匹配电路与所述射频模块电连接。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述阻抗匹配电路按照调试对象与连接规则与多个天线匹配电路、多个天线单元电连接，生成测试电路，包括：所述调试对象为第二调试对象，所述阻抗匹配电路按照第二连接规则与多个天线匹配电路、多个天线单元电连接，生成第一测试电路。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述第二连接规则为：所述第二天线单元通过第二天线匹配电路与所述射频模块电连接；所述第一天线单元与所述阻抗匹配电路电连接，所述阻抗匹配电路通过第一天线匹配电路与所述射频模块电连接。