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专利号: 2020101348008
申请人: 南通大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 将固体从固体中分离;分选
更新日期:2024-08-07
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种片式氧传感器陶瓷芯片自动检测工艺方法,其特征在于:包括如下步骤:

(1)工人将批量的陶瓷芯片放入上料筒(206)备料;控制系统控制三位气缸(208)带动送料板(205)移动到初始上料工位,送料板(205)方形槽正对上料筒(206),进行陶瓷芯片上料;

(2)控制系统控制三位气缸(208)带动送料板(205)向右移动到中间识别工位,将陶瓷芯片送至图像识别传感器(207)下方位置,图像识别传感器(207)识别陶瓷芯片的摆放状态;

(3)控制系统控制三位气缸(208)带动送料板(205)向右移动到吸取工位,将陶瓷芯片送至旋转机构(4)上方位置,吸盘(307)工作将陶瓷芯片吸起;送料板(205)向左移动回到初始上料工位;

(4)根据图像识别传感器(207)识别的图像信息进行判断,若陶瓷芯片前后端颠倒,则吸盘(307)将陶瓷芯片送至旋转机构(4)进行前后端位置调整;陶瓷芯片前后端位置调整完成后,根据图像识别传感器(207)识别的陶瓷芯片正反面情况,线性移动机构(3)将陶瓷芯片送至翻转机构(5)进行正反面翻转或直接送至加热检测位置;

(5)根据图像识别传感器(207)识别的图像信息进行判断,若陶瓷芯片前后端正常,而正反面颠倒,则由线性移动机构(3)通过吸盘(307)吸取陶瓷芯片送至翻转机构(5)进行正反面翻转;

(6)根据图像识别传感器(207)识别的图像信息进行判断,陶瓷芯片前后端位置及正反面都处于指定状态,则由线性移动机构(3)通过吸盘(307)吸取陶瓷芯片直接送至加热检测位置;

(7)陶瓷芯片经过上述机构调整到正确摆放状态后,放置在回形置料板(601)上,加热检测系统(6)对陶瓷芯片后端加热,控制系统控制推送气缸(603)将接插件(605)推送到陶瓷芯片前端,接插件(605)连接陶瓷芯片前端,通过检测仪表实现对陶瓷芯片电阻参数检测;

(8)根据测得的电阻值判断陶瓷芯片是否合格,由线性移动机构(3)通过吸盘(307)吸取陶瓷芯片分别送至合格品收料盒(7)、不合格品收料盒(8)进行分类收集,完成一个陶瓷芯片的检测。