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专利号: 2020102417151
申请人: 杭州电子科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种高反射度器件的热态阻抗测试系统,其特征在于,包括矢量网络分析仪、第一功率放大器、第二功率放大器、第一耦合器、第二耦合器、第一Bias‑Tee偏置器、第二Bias‑Tee偏置器、ESG信号发生器、直流电源、被测器件、无源调谐器;矢量网络分析仪与ESG信号发生器、第一功率放大器、第一耦合器、第二耦合器连接,第一耦合器与第一功率放大器、第一Bias‑Tee偏置器连接,第一Bias‑Tee偏置器上设置GSG探针,且第一Bias‑Tee偏置器与直流电源、被测器件连接;第二耦合器与无源调谐器、第二Bias‑Tee偏置器连接,第二Bias‑Tee偏置器上设置GSG探针,且第二Bias‑Tee偏置器与直流电源、被测器件连接;第二功率放大器与无源调谐器、ESG信号发生器连接;第一功率放大器、第二功率放大器的输出端都设置环形器;ESG信号发生器通过GPIB线与电脑连接,并由电脑控制ESG信号发生器的输出功率;

其中,ESG信号发生器和第一功率放大器、第二功率放大器、环形器组成有源调谐器;其中靠近被测器件的一侧的平面的反射系数满足如下公式:

为两个调谐器产生的总反射系数,S为无源调谐器的S参数, 为有源调谐器产生的反射系数。