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专利号: 2020102452117
申请人: 南京信息工程大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种气辉重力波多参数探测仪,其特征在于:包括外壳和设置于外壳上的光谱温度探测模块与大视场重力波成像模块;

所述外壳内侧底部设有光学底板,光学底板一侧设有出线口;

所述光谱温度探测模块包括第一光学镜筒、光学窗口、视场光阑、消色差双胶合透镜、第一窄带干涉滤光片、镜头、第一制冷CCD传感器和第一金属支架,所述光学窗口固定在外壳顶部,所述第一金属支架固定在光学底板上,所述第一光学镜筒固定在第一金属支架上,所述视场光阑、消色差双胶合透镜、第一窄带干涉滤光片和镜头从上至下依次设置在第一光学镜筒内,所述第一制冷CCD传感器固定在第一光学镜筒底部;

所述大视场重力波成像模块包括第二光学镜筒、半球形光学窗口、广角镜头、第一光纤光锥、第二窄带干涉滤光片、第二光纤光锥、第二制冷CCD传感器、第二金属支架;所述半球形光学窗口固定在外壳顶部,所述第二金属支架固定在光学底板上,所述第二光学镜筒固定在第二金属支架上,所述广角镜头、第一光纤光锥、第二窄带干涉滤光片和第二光纤光锥从上至下依次设置在第二光学镜筒内,所述第二制冷CCD传感器固定在第二光纤光锥底部。

2.根据权利要求1所述气辉重力波多参数探测仪,其特征在于:所述光谱温度探测模块还包括遮光镜筒,所述遮光镜筒位于第一光学镜筒和光学窗口之间,且固定在第一光学镜筒上方。

3.根据权利要求2所述气辉重力波多参数探测仪,其特征在于:所述遮光镜筒包括若干片同轴设置的遮光环,所述若干片遮光环的内径从上至下逐渐减小。

4.根据权利要求3所述气辉重力波多参数探测仪,其特征在于:所述光学窗口、遮光镜筒、第一光学镜筒、视场光阑、消色差双胶合透镜、第一窄带干涉滤光片、镜头和第一制冷CCD传感器位于同一轴线上。

5.根据权利要求1所述气辉重力波多参数探测仪,其特征在于:所述半球形光学窗口、广角镜头、第二光学镜筒、第一光纤光锥、第二窄带干涉滤光片、第二光纤光锥和第二制冷CCD传感器位于同一轴线上。

6.根据权利要求1所述气辉重力波多参数探测仪,其特征在于:所述第一、第二光纤光锥的大端相对设置。

7.根据权利要求1所述气辉重力波多参数探测仪,其特征在于:所述外壳一侧固定有半导体TEC空调。

8.根据权利要求7所述气辉重力波多参数探测仪,其特征在于:所述低功率半导体TEC空调的出风口与第一窄带干涉滤光片和第二窄带干涉滤光片位于同一水平面上。