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专利号: 2020102857043
申请人: 华侨大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于多尺度轮廓波特征的全参考光场图像质量评价方法,其特征在于,利用多尺度轮廓特征描述光场图像的细节信息,用于反映光场图像中边缘和轮廓结构的变化;步骤如下:

1)获取参考光场图像 和失真光场图像 其中,n表

示一组子孔径图像的数量;

2)提取参考光场图像Lr的多个尺度s多个方向o的参考轮廓波特征图Rs,o和失真光场图像Ld的多个尺度多个方向的失真轮廓波特征图Ds,o;其中,s=1,2,3,…,i,o=1,2,3,…,j;

3)融合每个尺度在不同方向下的参考轮廓波特征图Rs,o,得到参考融合轮廓波特征图Rs,e(x,y);融合每个尺度在不同方向下的失真轮廓波特征图Ds,o,得到失真融合轮廓波特征图Ds,e(x,y);其中,e表示每个尺度内所含的特征图个数,(x,y)表示光场图像中的像素;

4)融合各个尺度的参考融合轮廓波特征图Rs,e(x,y)与失真轮廓波特征图Ds,o,得到多尺度轮廓波特征相似度图CSims,e(x,y);

5)通过池化多尺度轮廓波特征相似度图CSims,e(x,y),得到多尺度质量评价分数Scores,e;

6)基于多尺度质量评价分数Scores,e计算失真光场图像质量评价值。

2.根据权利要求1所述的基于多尺度轮廓波特征的全参考光场图像质量评价方法,其特征在于,步骤2)具体如下:

2.1)对尺度s的参考光场图像Lr,s进行低通滤波和下采样,得到一个低频分量Lr,s+1;再对Lr,s+1进行上采样和滤波,得到参考光场图像Lr,s的预测图像,计算预测图像与Lr,s的差值,得到对应尺度的高频分量Rbs,具体公式如下:对尺度s的失真光场图像Ld,s进行低通滤波和下采样,得到一个低频分量Ld,s+1;再对Ld,s+1进行上采样和滤波,得到失真光场图像Ld,s的预测图像,计算预测图像与Ld,s的差值,得到对应尺度的高频分量Dbs,具体公式如下:其中,当s=1时,表示输入图像,DOWN表示下采样,UP表示上采样,F表示低通滤波;

2.2)捕获尺度s的参考光场图像Lr,s的高频分量Rbs的方向信息Rbs,o和失真光场图像Ld,s的高频分量Dbs的方向信息Dbs,o,具体公式如下:其中, 表示轮廓波方向滤波器组,2k表示分解的方向的数量;

2.3)参考轮廓波特征图Rs,o和失真轮廓波特征图Ds,o具体如下:

3.根据权利要求2所述的基于多尺度轮廓波特征的全参考光场图像质量评价方法,其特征在于,低通滤波采用9-7小波滤波器,具体如下:其中,w表示滤波器带宽。

4.根据权利要求1所述的基于多尺度轮廓波特征的全参考光场图像质量评价方法,其特征在于,步骤3)具体如下:尺度s=i的参考融合轮廓波特征图Rs,e(x,y)为参考光场图像Lr的低频子带,失真融合轮廓波特征图Ds,e(x,y)为参考光场图像Ld的低频子带,具体如下:Rs,e(x,y)=Lr,s;

Ds,e(x,y)=Ld,s;

其中,e=1;

计算s=1,2,3,…,i-1的参考融合轮廓波特征图Rs,e(x,y)和失真融合轮廓波特征图Ds,e(x,y),每个尺度根据轮廓波长条形的基并成两张特征图,具体如下:其中,∪为并集。

5.根据权利要求1或4所述的基于多尺度轮廓波特征的全参考光场图像质量评价方法,其特征在于,步骤4)具体如下:其中,Cs为稳定系数。

6.根据权利要求1所述的基于多尺度轮廓波特征的全参考光场图像质量评价方法,其特征在于,步骤5)具体如下:Ws,e(x,y)=max(Rs,e(x,y),Ds,e(x,y))。

7.根据权利要求1所述的基于多尺度轮廓波特征的全参考光场图像质量评价方法,其特征在于,步骤6)具体如下:

6.1)计算失真光场图像 每个尺度下的失真光场子孔径图像的图像质量评价值,如下:

6.2)计算失真光场子孔径图像的质量评价值,如下:

6.3)计算失真光场图像质量评价值,如下: