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专利号: 2020103290798
申请人: 陕西师范大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法,其特征在于,包括如下步骤,步骤1,将一系列不同质量的硫化钼和聚四氟乙烯单体混合均匀,得到对应的混合物,硫化钼占对应混合物的质量百分比分布范围为0.05%-2.00%;

步骤2,将对应的混合物采用粉末压片法压制成一系列的压片,将这些压片用X射线荧光光谱法测得对应的特征X射线荧光强度;

每一个压片得到的特征X射线荧光强度与该压片中硫化钼的质量百分比形成一组数据,进而得到若干组数据;

步骤3,将步骤2得到的若干组数据中的特征X射线荧光强度对硫化钼的质量百分比进行回归,获得测定聚四氟乙烯塑料中钼含量的校准曲线;

步骤4,从待检测样品中取样,然后按与获得该校准曲线相同的制样步骤进行制样,之后分为两种情况,第一,按与获得该校准曲线相同的测定步骤获得该样品的特征X射线荧光强度,最后结合步骤3中获得的校准曲线对应的回归方程进行计算,得到待检测样品中钼的含量;

第二,按与获得该校准曲线相同的测定步骤直接在X射线荧光光谱仪上读取钼的质量百分比,最后将所得的质量百分比乘以该校准曲线对应的回归方程与所述X射线荧光光谱仪上内置的回归方程的斜率比,得到待检测样品中钼的含量。

2.根据权利要求1所述的一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法,其特征在于,步骤

1中,所述聚四氟乙烯单体的粒径为100-500μm。

3.根据权利要求1所述的一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法,其特征在于,步骤

1中,相同硫化钼质量百分比的混合物形成一个组,不同硫化钼质量百分比的混合物为4~6个组且在0.05%-2.00%之间均匀分布,之后在步骤2测对应的特征X射线荧光强度时,同一个组所得数据取平均值并与对应硫化钼的质量百分比形成一组数据。

4.根据权利要求3所述的一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法,其特征在于,当所述的混合物为6组时,硫化钼占对应混合物的质量百分比分别为0.05%、0.10%、0.20%、

0.50%、1.00%和2.00%。

5.根据权利要求3所述的一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法,其特征在于,每组混合物的个数不少于6个;当每组混合物的个数为6个时,在步骤2压制压片时一次平行制压

3个压片,共制压2次。

6.根据权利要求1所述的一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法,其特征在于,步骤

2中,对应的混合物取0.5-1.50g,之后压制成厚度为0.3-3.0mm的一系列压片。

7.根据权利要求1所述的一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法,其特征在于,步骤

2在用X射线荧光光谱法进行检测时,使用X射线荧光光谱仪进行操作,之后选择测定的能量为17.44KeV,电压为20-50KV,工作功率为2-6KW,PHD范围为25-75。

8.根据权利要求1所述的一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法,其特征在于,步骤

2在制压片时的压力为5-15MPa,之后保压5-10s,制成圆形压片。

9.根据权利要求8所述的一种聚四氟乙烯塑料中钼含量的测定方法,其特征在于,步骤

2在压片前将得到的混合物进行烘干处理,之后在干燥器中冷却,在压片时采用双面辅助去粘压片的方式进行,成型后减压取出并进行编号,吹去压片表面的残余,得到表面光滑和无裂纹的饼状压片。