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专利号: 2020103486360
申请人: 西安工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种片状样品导热系数的测试方法,其特征在于,该测试方法如下:

步骤S11、选取待测样品和A、B两个已知不同导热系数的基准样品,并将三者均加工成直径和厚度均相等的片状体;

其中,所述待测样品的预期导热系数范围值已知;在两个所述基准样品中,一个所述基准样品的真实导热系数大于所述待测样品的真实导热系数,另一个小于所述待测样品的真实导热系数;

步骤S12、将所述步骤S11中的片状体,采用平板稳态法导热系数测试仪加热,并由其热电偶测试所述片状体上下端的温度,得出所述待测样品和A、B基准样品的导热系数测试值,分别为:λ、λA和λB;

步骤S13、采用线性插值的方法,由步骤S12中所述导热系数测试值,估算出所述待测样品的真实导热系数λ*;

*

λ=λB0+(λ-λB)·(λA0-λB0)/(λA-λB) (1);

其中:λA0为A基准样品的真实导热系数;λB0为B基准样品的真实导热系数。

2.根据权利要求1所述的一种片状样品导热系数的测试方法,其特征在于,各所述样品的片状体的厚度均为1mm-20mm。

3.一种标准图谱测试片状样品导热系数的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:步骤S21、将一已知真实导热系数的基准材料,加工成直径相同、高度不同的多个片状体状,厚度均在1mm-20mm的范围内;

步骤S22、将所述步骤S21中的各片状体,采用平板稳态法导热系数测试仪,对所述片状体加热,并由其热电偶分别测量所述片状体上下端的温度,测量并计算对应的各所述片状体的导热系数测试值;

步骤S23、以各所述片状体状的高度为横坐标、各导热系数测试值为纵坐标绘出数据点图,拟合成一条光滑曲线,得对应直径下该基准材料的导热系数测试值的曲线图;

步骤S24、选择不同的基准材料,分别重复步骤S21~步骤S23,得到相同直径下的各基准材料的导热系数测试值的曲线图,将所述各基准材料的导热系数测试值的曲线图集合,得该直径下基准材料的导热系数测试值的标准图谱;

步骤S25、依次重复步骤S21~步骤S24,不同的是,每次重复时,步骤S21中选择不同的直径值;依次得到不同直径下基准材料的导热系数测试值的标准图谱;

步骤S26、取待测样品,所述待测样品的预期导热系数范围值已知,且位于对应直径下的标准图谱中的最大导热系数测试值和最小导热系数测试值间;

选择所述标准图谱中的相应的直径作为标准直径,将所述待测样品加工成标准直径的片状体,重复步骤S22,测得所述待测材料的导热系数测试值λc;在对应的所述标准图谱中,将所述待测样品的厚度作为横坐标,导热系数测试值作为对应的纵坐标值,分别经过横纵坐标值做出各轴的垂线,两直线十字交叉得出交叉点,读取所述交叉点上下相邻的两条标准曲线处的导热系数测试值λ1和λ2;在曲线上读出厚度为20mm下的待测样品的上下相邻的曲线的标准样品的导热系数估算值λ3和λ4,采用线插法估算出所述待测样品在高度为20mmz z下的导热系数估算值λ,λ=λ4+(λc-λ2)·(λ3-λ4)/(λ1-λ2)(2);

步骤S27、将λz作为中间值,根据公式(3)估算出待测材料的真实导热系数λ0,λ0=λ6+(λz–λ4)·(λ5-λ6)/(λ3-λ4)(3);其中:λ5和λ6为两基准样品的真实导热系数。

4.根据权利要求1或2中所述的一种片状样品导热系数的测试方法或者权利要求3所述的一种标准图谱测试片状样品导热系数的方法,其特征在于,片状体放置在测试辅助装置中,所述测试辅助装置包括:绝热套(3),为两端敞口且具有柱状内腔的壳体,内腔用于盛放所述片状样品;

测温板(1),为两个,均为圆形板体,用于水平且同轴盖设于所述绝热套(3)的上下方敞口,各所述测温板(1)的直径大于所述绝热套(3)的直径;在所述上方测温板(1)的下壁面、以及所述下方测温板(1)的上壁面靠近样品的中心位置处径向向外延伸开有一测温孔,用于所述平板稳态法导热系数测试仪的热电偶插入测温;

隔热板(2),为两个,均为环形板体,套设在所述绝热套(3)的上下端的外壁上,且上方所述隔热板(2)上壁面和下方隔热板(2)的下壁面与对应端的所述测温板的下壁面和上壁面紧密贴合。

5.根据权利要求4所述的一种片状样品导热系数的测试方法,其特征在于,所述绝热套(3)的上部的直径小于下部的直径,以在上下部的连接处形成一平台,用于支撑上端的所述隔热板(2)。