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专利号: 202010404230X
申请人: 湖南科技学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 电通信技术
更新日期:2024-05-31
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种半导体纳米材料热输运性质测试方法,其特征在于,所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤:由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试,并得到测试数据;由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接;响应于与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接,由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置;响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置,由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号;响应于接收到所述由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号,由半导体纳米材料热输运性质测试装置判断所述参考信号的接收功率是否大于门限值;如果判断所述参考信号的接收功率大于门限值,则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息;响应于接收到通知消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息;响应于接收到所述询问消息,由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据;如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据,则由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送准许消息;响应于接收到所述准许消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送所述准许消息;响应于接收到所述准许消息,由半导体纳米材料热输运性质测试装置同时与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接,所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤:响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接,由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送所述测试数据;响应于接收到所述测试数据,由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送所述测试数据;响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接,由半导体纳米材料热输运性质测试装置继续接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置;响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置,由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第二参考信号以及由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第一参考信号;

响应于接收到所述第一参考信号以及所述第二参考信号,由半导体纳米材料热输运性质测试装置确定所述第一参考信号的第一接收功率以及所述第二参考信号的第二接收功率;由半导体纳米材料热输运性质测试装置比较所述第一接收功率与所述第二接收功率;如果所述第二接收功率大于所述第一接收功率,则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送切换消息,所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤:响应于接收到所述切换消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息;响应于接收到所述询问消息,由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据;如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据,则由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送第二准许消息;响应于接收到所述第二准许消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送所述准许消息;响应于接收到所述准许消息,由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接,所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤:响应于接收到所述第二准许消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放消息;响应于接收到所述通信释放消息,由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放响应消息;响应于接收到所述通信释放响应消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送通信连接改变消息;响应于接收到所述通信连接改变消息,由半导体纳米材料热输运性质测试装置断开与所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接;响应于与所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接,由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信连接改变响应消息,所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤:响应于与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接,并且与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端断开通信连接,由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送所述测试数据;响应于接收到所述测试数据,由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送所述测试数据。2.一种半导体纳米材料热输运性质测试系统,其特征在于,所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括:用于由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试,并得到测试数据的单元;用于由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元;用于响应于与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接,由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置的单元;用于响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置,由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号的单元;用于响应于接收到所述由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号,由半导体纳米材料热输运性质测试装置判断所述参考信号的接收功率是否大于门限值的单元;用于如果判断所述参考信号的接收功率大于门限值,则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息的单元;用于响应于接收到通知消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息的单元;用于响应于接收到所述询问消息,由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据的单元;用于如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据,则由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送准许消息;用于响应于接收到所述准许消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送所述准许消息的单元;用于响应于接收到所述准许消息,由半导体纳米材料热输运性质测试装置同时与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元,所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括:用于响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接,由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送所述测试数据的单元;用于响应于接收到所述测试数据,由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送所述测试数据的单元;用于响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接,由半导体纳米材料热输运性质测试装置继续接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置的单元;用于响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置,由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第二参考信号以及由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第一参考信号的单元;用于响应于接收到所述第一参考信号以及所述第二参考信号,由半导体纳米材料热输运性质测试装置确定所述第一参考信号的第一接收功率以及所述第二参考信号的第二接收功率的单元;用于由半导体纳米材料热输运性质测试装置比较所述第一接收功率与所述第二接收功率的单元;用于如果所述第二接收功率大于所述第一接收功率,则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送切换消息的单元,所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括:用于响应于接收到所述切换消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息的单元;用于响应于接收到所述询问消息,由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据的单元;用于如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据,则由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送第二准许消息的单元;用于响应于接收到所述第二准许消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送所述准许消息的单元;用于响应于接收到所述准许消息,由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元,所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括:用于响应于接收到所述第二准许消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放消息的单元;用于响应于接收到所述通信释放消息,由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放响应消息的单元;用于响应于接收到所述通信释放响应消息,由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送通信连接改变消息的单元;用于响应于接收到所述通信连接改变消息,由半导体纳米材料热输运性质测试装置断开与所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接的单元;用于响应于与所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接,由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信连接改变响应消息的单元,所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括:用于响应于与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接,并且与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端断开通信连接,由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送所述测试数据的单元;用于响应于接收到所述测试数据,由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送所述测试数据的单元。