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专利号: 2020104245304
申请人: 盐城工业职业技术学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-08-12
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种无空腔或多空腔多层陶瓷基板的气密性检测方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1,组装真空接头:将真空接头中的真空抽气口与质谱检漏仪相连接;

步骤2,铺设真空橡皮:将真空橡皮铺设在真空接头的上表面,并使得真空橡皮的空腔窗同轴位于真空抽气口的正上方,且相连通;

步骤3,定位吸料:若干块待测的多层陶瓷基板垂直堆叠放置在顶升板顶部;通过控制顶升板的高度升降,使得位于顶部的多层陶瓷基板与上料筒顶部相齐平,进而使得机械手能在固定高度位置吸取多层陶瓷基板;机械手移至上料筒正上方,机械手底部的吸盘伸长,并吸附在顶部多层陶瓷基板的中心;

步骤4,上料:机械手移动,将吸附的多层陶瓷基板移栽并放置在空腔窗的上方,吸盘仍保持吸附状态;

步骤5,多层陶瓷基板对中及真空橡皮密封:横向对中组件和竖向对中组件中的两块定位板均同步相向运动;在同步相向运动过程中,定位板底部将挤压位于下方的真空橡皮顶部,使得真空橡皮与真空接头底部形成密封;当两块定位板均与多层陶瓷基板相接触时,停止相向运动;此时,多层陶瓷基板完成对中,同轴位于空腔窗的正上方,多层陶瓷基板外侧边缘搭设在空腔窗外侧的真空橡皮表面,形成搭接部;

步骤6,多层陶瓷基板密封:吸盘放气、收缩,解除与多层陶瓷基板的吸附;机械手带动弹性压框高度下降,弹性压框与多层陶瓷基板的搭接部相接触,定位板复位;弹性压框高度继续下降,将多层陶瓷基板的搭接部密封压紧在真空橡皮表面,从而使得空腔窗为一个密封空腔;

步骤7,气密封检测:对步骤6形成的密封空腔抽真空,接着采用喷枪对多层陶瓷基板施加气压,质谱检漏仪检测多层陶瓷基板的漏率;

步骤8,气密封检测完成后,机械手根据步骤7气密性检测结果,将检测完成的多层陶瓷基板放置在合格品区或不合格品区;然后复位,重复步骤3至步骤8,进行下一个多层陶瓷基板的气密性检测。

2.根据权利要求1所述的无空腔或多空腔多层陶瓷基板的气密性检测方法,其特征在于:当多层陶瓷基板具有多空腔时,步骤5中多层陶瓷基板完成对中后,应使多层陶瓷基板的所有空腔均位于真空橡皮的空腔窗内。

3.根据权利要求2所述的无空腔或多空腔多层陶瓷基板的气密性检测方法,其特征在于:步骤5形成的搭接部宽度为0.5 1mm。

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4.根据权利要求3所述的无空腔或多空腔多层陶瓷基板的气密性检测方法,其特征在于:步骤5形成的搭接部宽度为0.8mm。

5.根据权利要求1所述的无空腔或多空腔多层陶瓷基板的气密性检测方法,其特征在于:步骤2中,真空橡皮铺设前,先在位于真空抽气口外周的真空橡皮上表面涂抹真空硅脂。