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专利号: 2020104929614
申请人: 聊城大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-03-22
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种芯区压缩型光纤马赫-曾德干涉器的制备方法,其特征在于,包括步骤如下:步骤A:部分去除单模光纤或少模光纤一侧的包层,得到一个平行于纤芯中轴线的平面;

步骤B:在步骤A所得到的平面上继续刻蚀形成两条沟槽;两沟槽内侧壁的间距小于光纤基模尺寸。

2.一种芯区压缩型光纤马赫-曾德干涉器的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤A:部分去除单模光纤或少模光纤双侧的包层,形成两个相对的平面;

步骤B:在步骤A形成的两平面上,刻蚀形成两个沟槽;沟槽底部与光纤中轴线间的距离小于光纤基模模场分布半径。

3.如权利要求1所述的一种芯区压缩型光纤马赫-曾德干涉器的制备方法,其特征在于,所述两条沟槽的边缘为直线,所述直线互相平行。

4.如权利要求3所述的一种芯区压缩型光纤马赫-曾德干涉器的制备方法,其特征在于,所述两条沟槽相对于光纤中轴线成对称分布。

5.权利要求1或2所述制备方法获得的干涉器在制备光纤传感器方面的应用。