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专利号: 2020105005261
申请人: 杭州电子科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种局部放电故障类型检测方法,其特征在于:步骤一、对存在不同局部放电故障类型的电子元件进行多组标定试验,每种故障类型测试M组;对存在局部放电故障的电子元件进行标定试验的过程如下:

1-1.将高频电流互感器的感应圈套置到电子元件引出的线缆上;电子元件进行升压,使该电子元件发生局部放电;

1-2.通过高频电流互感器检测电子元件的局部放电信号;之后,利用混沌同步检测方法将局部放电信号转换成混沌误差分布图,并提取混沌误差分布图中混沌眼的坐标(X1,Y1),(X2,Y2);再进一步计算出特征坐标(Z1,Z2);Z1=a×(X1×Y1),Z2=b×(X2/Y1),其中,a、b分别为两个混沌眼的修正系数;

步骤二、根据步骤一中所得的各组标定试验得到的特征坐标,进行特征坐标对局部放电故障类型的标定;

步骤三、将高频电流互感器的感应圈套置到被测电子元件引出的线缆上;当被测电容器发生局部放电时,高频电流互感器检测电力设备局部放电所产生的局部放电信号;

步骤四、根据步骤1-2中的方法获取步骤三检测到的局部放电信号对应的特征坐标;

步骤五、结合步骤一和二中的标定结果,根据步骤四获得特征坐标确定被测电子元件当前发生的局部放电故障类型。

2.根据权利要求1所述的一种局部放电故障类型检测方法,其特征在于:步骤二中,标定的具体过程如下:分别对属于同一故障类型的M个特征坐标求取中心坐标;将各中心坐标分别作为各局部放电故障类型的标准坐标;步骤五中获取局部放电故障类型的具体过程如下:将步骤四获得的特征坐标与各个标准坐标分别求距离;取到特征坐标距离最小的那个标准坐标对应的局部放电故障类型作为被测电容器当前发生的局部放电故障类型。

3.根据权利要求1所述的一种局部放电故障类型检测方法,其特征在于:步骤一和三中中,高频电流互感器检测到的局部放电信号均经过滤波、放大处理后转化为数字信号。

4.根据权利要求1所述的一种局部放电故障类型检测方法,其特征在于:步骤一中,局部放电故障类型包括元件氧化导致的局部放电、元件变形导致的局部放电、元件磨损导致的局部放电和元件存在杂质导致的局部放电。

5.根据权利要求1所述的一种局部放电故障类型检测方法,其特征在于:步骤一中,每种故障类型的测试次数M=25。

6.根据权利要求1所述的一种局部放电故障类型检测方法,其特征在于:步骤一中,所述的电子元件为电容器;a和b的取值均为1。

7.根据权利要求1所述的一种局部放电故障类型检测方法,其特征在于:本发明采用的检测装置包括高频电流互感器、检测电路、控制器和上位机;上位机采用计算机;高频电流互感器的感应圈套置在被测电子元件一端引出的线缆上,并与检测电路的输入端相连;检测电路包括依次连接的高通滤波电路和同相放大电路;检测电路的输出端与控制器连接;

控制器与上位机通信。

8.根据权利要求1所述的一种局部放电故障类型检测方法,其特征在于:所述的高通滤波电路包括电阻R1、电阻R2、电容C1、电容C2、电容C3、电感L1、电感L2、电感L3和电感L4;电阻R1一端接高频电流互感器的输出端、电容C1及电感L1的一端;电容C1的另一端接电感L2及电容C2的一端;电容C2的另一端接电感L3及电容C3的一端;电容C3的另一端接电感L4、电阻R2的一端,作为高通滤波电路的输出端;电阻R1、电阻R2、电感L1、电感L2、电感L3和电感L4的另一端均接地。

9.根据权利要求1所述的一种局部放电故障类型检测方法,其特征在于:所述的同相放大电路包括电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6和运算放大器;运算放大器的同向输入端接电阻R3的一端及高通滤波电路的输出端,反向输入端接电阻R4及电阻R5的一端,输出端接电阻R5的另一端、电阻R6的一端及控制器的模数转换接口;高通滤波电路的负供电电压端、电阻R3、电阻R4及电阻R6的另一端均接地;高通滤波电路的正供电电压端接外部电源。