1.一种基于成像条件校正的开放测量环境光谱测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，测量获得参考测量环境的光源数据；

步骤2，在参考测量环境下，拍摄训练样本集和参考白板数字图像，提取其各自raw响应值；

步骤3，利用测量系统和训练样本集，计算光谱估计矩阵Q；

步骤4，在开放测量环境下，拍摄测量对象和参考白板数字图像，提取其各自raw响应值；

步骤5，利用参考白板raw响应值，计算校正矩阵M1，用于成像条件的初步校正；

步骤6，估计开放测量环境对应的k个目标光源数据；

步骤7，计算校正矩阵M2，用于成像条件的进一步校正；

步骤8，利用校正矩阵M1和M2，校正测量对象的raw响应值；

步骤9，利用光谱估计矩阵Q，估计测量对象的光谱；

步骤10，完成光谱测量，得到测量对象光谱数据。

2.根据权利要求1所述的一种基于成像条件校正的开放测量环境光谱测量方法，其特征在于：步骤1中采用光谱辐射度计测量获得参考测量环境的光源数据。

3.根据权利要求1所述的一种基于成像条件校正的开放测量环境光谱测量方法，其特征在于：步骤3中，训练样本集中训练样本的光谱数据为已知数据，采用分光光度计测量获得，光谱估计矩阵Q的计算方法如下：以Rtrain表示训练样本集的光谱数据矩阵，以Dtrain表示训练样本集的raw响应值矩阵，利用最小二乘法计算光谱估计矩阵Q，其计算方法如式一所示，其中上标‘+’表示伪逆算子，Q＝Rtrain(Dtrain)+.     式一。

4.根据权利要求1所述的一种基于成像条件校正的开放测量环境光谱测量方法，其特征在于：步骤3中，若测量系统为基于单幅RGB图像的光谱测量系统，即训练样本集的raw响应值为三通道数据，则对其进行多项式扩展，以三阶多项扩展为例，其扩展形式如式二所示：dexpanded＝[1 r g b rg rb gb r2 g2 b2 rg2 r2g rb2 r2b gb2 g2b r3 g3 b3].   式二其中，r、g和b为每个训练样本的R通道、G通道和B通道的raw响应值，dexpanded表示raw响应值的扩展响应向量，用于构成练样本集的响应值矩阵Dtrain；若测量系统为多通道式光谱测量系统，则不执行式二所示的响应值扩展处理。

5.根据权利要求1所述的一种基于成像条件校正的开放测量环境光谱测量方法，其特征在于：步骤5中，校正矩阵M1的计算方法如下：以dwhite,ref表示参考测量环境下参考白板的raw响应值，以dwhite,test表示开放测量环境下参考白板的raw响应值，则按照式三计算得到校正矩阵M1，M1＝diag(dwhite,ref./dwhite,test).   式三

其中，diag为矩阵或向量对角化变换函数，‘./’表示矩阵或向量中的元素相除计算，M1为K×K的对角矩阵，K为测量系统的通道数。

6.根据权利要求1所述的一种基于成像条件校正的开放测量环境光谱测量方法，其特征在于：步骤6中，利用相机灵敏度函数、光源数据库、参考白板光谱数据和参考白板在开放测量环境下的raw响应值，估计开放测量环境对应的k个目标光源，具体方法如下所述：首先，对开放测量环境下参考白板的raw响应值进行最大值归一化处理，如式四所示，dwhite,test,norm＝dwhite,test./max(dwhite,test).   式四其中，max(*)为求解最大值函数，dwhite,test,norm为归一化后的raw响应值；

其次，针对光源数据库中的任意一个待选光源li(λ)，i指示第i个待选光源，结合测量系统的灵敏度函数和参考白板的光谱数据，按照式五计算参考白板在待选光源下的仿真响应值di，并按照式四所示方法对其进行归一化处理，获得参考白板归一化仿真响应值di,norm，di＝∫li(λ)r(λ)s(λ)dλ   式五其中，l(λ)为光源的光谱功率分布，r(λ)为物体的光谱数据，s(λ)为相机的灵敏度函数，λ表示波长；

最后，以参考白板在开放测量环境下归一化raw响应值dwhite,test,norm和归一化仿真响应值di,norm的误差最小化为准则，从光源数据库中选择与开放测量环境等效的k个目标光源，获得k个目标光源的光谱功率分布数据。

7.根据权利要求6所述的一种基于成像条件校正的开放测量环境光谱测量方法，其特征在于：采用综合角度误差(Angle error,AE)和欧式距离(Euclidean distance,ED)的整体误差(Overall Error,OE)，作为判断dwhite,test,norm和di,norm的误差指标，其中AE反映了dwhite,test,norm和di,norm分布的形状相似性，ED反映了dwhite,test,norm和di,norm分布的距离相似性，AE和ED越大，OE越大，dwhite,test,norm和di,norm的差异性越大，反映出待选光源与开放环境光源的等效性越差；整体误差OE的计算方法如式六至式八所示，EDi＝||di,norm-dwhite,test,norm||,   式七

OEi＝norm(AEi)×norm(EDi).   式八

其中，arccos为反余弦函数，单位为弧度(rad)，上标‘T’表示转置预算符号，||·||表示矩阵或向量范数，norm(*)为对数据进行最大值归一化处理的函数；对整体误差OE进行升序排序，提取前k个整体误差较小的光源作为目标光源，并提取目标光源的光谱功率分布数据。

8.根据权利要求1所述的一种基于成像条件校正的开放测量环境光谱测量方法，其特征在于：步骤7中，利用相机灵敏度函数、k个目标光源数据、参考白板光谱数据、参考测量环境的光源数据和训练样本集光谱数据，计算校正矩阵M2，具体计算方法如下：首先，按照式五所示成像模型，计算训练样本集在参考光源和任一目标光源下的仿真响应矩阵Dref和Dtarget，并计算参考白板在参考光源和任一目标光源下的仿真响应值dwhite,ref,sim和dwhite,target,sim，参考式三所示方法，利用参考白板的仿真响应值计算仿真校正矩阵M1,sim，并按照式九所示方法对Dtarget进行校正，得到Dtarget,corr，使Dtarget,corr和Dref的仿真成像条件一致；

Dtarget,corr＝Dtarget·M1,sim,   式九

然后，将Dref复制k次，得到Dref,1～k，并将k个目标光源对应的Dtarget,corr进行组合，得到Dtarget,corr,1～k；

最后，利用最小二乘法计算由Dtarget,corr,1～k向Dref,1～k转换的校正矩阵M2，如式十所示，M2＝Dtarget,corr,1～k\Dref,1～k.   式十其中，‘\’为Matlab中最小二乘求解算子，M2同样为K×K的方阵，K为通道数。

9.根据权利要求1所述的一种基于成像条件校正的开放测量环境光谱测量方法，其特征在于：步骤8中，利用校正矩阵对测量对象的raw响应值校正方法如式十一所示：dtest2train＝dtest·M1·M2.   式十一

其中，dtest表示测量对象的raw响应值，dtes2traint表示校正后的测量对象的raw响应值。

10.根据权利要求1、4和5所述的一种基于成像条件校正的开放测量环境光谱测量方法，其特征在于：步骤9中，测量对象的光谱估计方法如式十二所示，rtest,est＝Q·dtest2train.   式十二

其中，rtest,est表示通过光谱估计得到的测量对象的光谱数据，若测量系统为基于单幅RGB图像的光谱测量系统，由式十一计算得所到的dtes2traint在用于式十二之前，要按照式二进行同样阶数的多项扩展，若测量系统为多通道式光谱测量系统，则不执行式二所示的响应值扩展处理。