1.一种超导块材温升检测系统，其特征在于，包括：

超导块材(15)，所述超导块材(15)设置在液氮(14)内，所述超导块材(15)设置在永磁轨道(16)上方；

光纤传感器(6)，与调解仪(12)电连接的所述光纤传感器(6)设置在所述超导块材(15)内，所述光纤传感器(6)接收调解仪(12)发出的光信号，并向调解仪(12)传送瑞利散射光(7)；以及调解仪(12)，所述调解仪(12)提供光信号，所述调解仪(12)接收并处理所述光纤传感器(6)产生的瑞利散射光(7)。

2.根据权利要求1所述的超导块材温升检测系统，其特征在于：所述光纤传感器(6)为分布式光纤温度传感器。

3.根据权利要求1所述的超导块材温升检测系统，其特征在于：所述超导块材(15)下表面设置有第一椭圆形凹槽和第二椭圆形凹槽，第二椭圆形凹槽嵌套设置在第一椭圆形凹槽内，第一椭圆形凹槽和第二椭圆形凹槽均设置有所述光纤传感器(6)。

4.根据权利要求1所述的超导块材温升检测系统，其特征在于：所述超导块材(15)侧面环绕设置有两个平行的凹槽，在两个凹槽内均设置有所述光纤传感器(6)。

5.根据权利要求1所述的超导块材温升检测系统，其特征在于：所述超导块材(15)下表面设置有若干不同深度的小孔，每个小孔内均设置有所述光纤传感器(6)。

6.根据权利要求1所述的超导块材温升检测系统，其特征在于：所述超导块材(15)的侧面设置有若干不同深度的小孔，每个小孔内均设置有所述光纤传感器(6)。

7.一种超导块材温升检测方法，其特征在于，包括：

将光纤传感器(6)设置在超导块材(15)内；

将所述光纤传感器(6)与调解仪(12)电连接，所述调解仪(12)对所述光纤传感器(6)进行首次测量并储存每一位置的瑞利散射信号，记为基准信号；

所述超导块材(15)温度变化时，所述光纤传感器(6)内部折射率改变，产生新的瑞利散射光(7)，所述调解仪(12)内的探测器(9)收集每一位置处新的瑞利散射光(7)，记为测量信号；

对测量信号光谱频率和基准信号光谱频率数据进行处理，得到光谱漂移，通过光谱漂移计算得到温度变化值。

8.根据权利要求7所述的超导块材温升检测方法，其特征在于，所述对测量信号光谱频率和基准信号光谱频率数据进行处理包括：所述调解仪(12)分别获得基准信号光谱频率和测量信号光谱频率；

通过以下公式计算得到光谱漂移Δv的数值：

公式(1)中，Uj(v)表示基准信号光谱，Uj(v-Δvj)表示测量信号光谱，“*”表示交叉相关算子。

9.根据权利要求7所述的超导块材温升检测方法，其特征在于，所述方法还包括：所述调解仪(12)分别获得基准信号和测量信号两者的平均波长和频率；

通过以下公式计算得到温度变化值：

公式(2)中，λ表示平均波长，v表示光波频率，Δv表示光谱漂移；测量温度时，不考虑应变因素对光谱响应的影响，此时ε≈0；KT和Kε为温度和应变校准常数。