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专利号: 2020106254007
申请人: 长春理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种多光场多角度多维度光谱偏振特性测量装置,其特征是: 包括光源照射系统(1)、转台(2)、特性测量系统(3)、数据处理系统(4)、目标稳定平台(5)以及控制箱(6),所述转台(2)为半球形支架转台;所述光源照射系统(1)设置在转台(2)上,可沿转台(2)的半球形支架滑动; 所述特性测量系统(3)设置在转台(2)上,可沿转台(2)的半球形支架滑动;所述控制箱(6)与转台(2)连接,用于控制光源照射系统(1)和特性测量系统(3)在转台(2)上的固定位置;所述目标稳定平台(5)设置在转台(2)下表面上部中心位置;所述数据处理系统的信号输入端与光源照射系统(1)和特性测量系统(3)连接;

应用所述测量装置的测量方法包括:

对光源照射系统(1)的光源及特性测量系统(3)的探测器产生或接收的线偏振及圆偏振特性的性能进行标定,对被测空间目标的偏振散射特性进行定量化测量,获取被测空间目标的偏振特性数据;

采用多谱段动态偏振信息融合技术,对红外偏振动态序列与可见光序列、可见光偏振序列进行融合,首先对红外灰度动态序列及可见光偏振动态序列中的目标信息进行检测,将检测到的运动目标与可见光序列中各帧图像分别进行预处理,并进行图像间配准,对配准后各分量进行多尺度信息融合,得到多谱段偏振融合信息,获得被测空间目标的探测信息。

2.一种多光场多角度多维度光谱偏振特性测量方法,其特征是: 应用权利要求 1 所述的一种多光场多角度多维度光谱偏振特性测量装置,包括以下步骤,且以下步骤顺次进行,步骤一、入射面内的散射分布测量

将被测空间目标放置在目标稳定平台(5)上,通过控制箱(6)固定光源照射系统(1)方位角,确定俯仰角,通过控制箱(6)控制特性测量系统(3)方位角与光源照射系统(1)方位角一致,改变特性测量系统(3) 俯仰角从 0°~90°测量;重复所述测量方法,从‑90°~90°改变光源照射系统(1)俯仰角,改变特性测量系统(3)俯仰角从 0°~90°测量,获得全角度入射面内的散射分布量;

步骤二、固定入射角,半球空间探测

将被测空间目标放置在目标稳定平台(5)上,光源照射系统(1)方位角和俯仰角确定,特性测量系统(3)方位角从 0°~360°,俯仰角‑90°~90°,每间隔 1°进行半球空间测量;

步骤三、偏振特性数据获取

对光源照射系统(1)的光源及特性测量系统(3)的探测器产生或接收的线偏振及圆偏振特性的性能进行标定,对被测空间目标的偏振散射特性进行定量化测量,获取被测空间目标的偏振特性数据;

步骤四、获得多谱段偏振融合信息,完成被测空间目标的探测采用多谱段动态偏振信息融合技术,对红外偏振动态序列与可见光序列、可见光偏振序列进行融合,首先对红外灰度动态序列及可见光偏振动态序列中的目标信息进行检测,将检测到的运动目标与可见光序列中各帧图像分别进行预处理,并进行图像间配准,对配准后各分量进行多尺度信息融合,得到多谱段偏振融合信息,获得被测空间目标的探测信息;

所述步骤一和步骤二测量过程中,被测空间目标放置在 xy 平面上,x 轴为方位角起始 0°,逆时针为正;俯仰角以 xy 平面为 0°,顺时针方向从 0°~180°为正;

所述步骤三中被测空间目标全偏振特性的测量在相应光源、照射和探测角度下,线偏振片转至 0°、45°、90°、135°进行测量获取线偏振信息,线偏振结合四分之一波片进行测量获取圆偏振信息,从而获得该照射和探测角度下全斯托克斯Stokes 参量总光强度I、X 轴方向直线偏振光分量 Q、45°方向直线偏振分光量 U、右旋圆偏振光分量V,并计算得到偏振度和偏振角特性信息,之后变换角度,获取不同角度对应的基础材质偏振特性。