1.一种晶圆测试用探针台，包括机架(1)，所述机架(1)上设有测试装置(2)和转料装置(3)，所述转料装置(3)包括机械手(31)，其特征在于：还包括转动架设在机架(1)上的旋转支架(8)，所述机架(1)上设有用于驱使旋转支架(8)转动的旋转电机(11)，所述旋转支架(8)的旋转轴心水平，旋转支架(8)位于测试装置(2)下方，旋转支架(8)上滑动设有底座(81)，旋转支架(8)上设有用于驱使底座(81)滑移的驱动机构(82)，所述底座(81)成对设置，两个底座(81)的滑移方向相反，底座(81)背向旋转支架(8)中心一侧的面上设有吸附板(83)，底座(81)通过横移组件(84)和纵移组件(85)与吸附板(83)相连，所述吸附板(83)背向底座(81)一侧开设有气孔(831)，所述气孔(831)朝向底座(81)的一端接有气泵(833)。

2.根据权利要求1所述的晶圆测试用探针台，其特征在于：所述驱动机构(82)包括转动架设在旋转支架(8)上的驱动齿轮(821)，所述旋转支架(8)上设有第一驱动电机(822)，所述第一驱动电机(822)的机轴与驱动齿轮(821)相连，两个所述底座(81)上均设有驱动齿条(823)，两个所述驱动齿条(823)分别位于驱动齿轮(821)的两侧，驱动齿条(823)与驱动齿轮(821)啮合，驱动齿条(823)沿底座(81)的滑移方向设置。

3.根据权利要求2所述的晶圆测试用探针台，其特征在于：两个所述驱动齿条(823)背向驱动齿轮(821)的一侧均设有限位块(824)，所述限位块(824)与对应的驱动齿条(823)相抵，限位块(824)与旋转支架(8)相连。

4.根据权利要求1所述的晶圆测试用探针台，其特征在于：所述驱动机构(82)包括转动架设在旋转支架(8)上的螺杆(825)，所述螺杆(825)沿底座(81)的滑移方向设置，螺杆(825)一端设有左旋螺纹，螺杆(825)另一端设有右旋螺纹，螺杆(825)两端分别套设有两个螺母座(826)，所述螺母座(826)与螺杆(825)螺纹配合，两个螺母座(826)分别与两个底座(81)相连，所述旋转支架(8)上设有第二驱动电机(827)，所述第二驱动电机(827)的机轴与螺杆(825)相连。

5.根据权利要求1所述的晶圆测试用探针台，其特征在于：所述旋转支架(8)通过转轴(86)与机架(1)相连，所述转轴(86)上套设有正齿轮(87)和反齿轮(88)，所述机架(1)上转动架设有第一传动轴(12)和第二传动轴(13)，所述第一传动轴(12)和第二传动轴(13)均与转轴(86)平行，所述第一传动轴(12)与旋转电机(11)的机轴相连，第一传动轴(12)上键连接有第一齿轮(14)，所述第二传动轴(13)上键连接有第二齿轮(15)和第三齿轮(16)，所述第一齿轮(14)与第一传动轴(12)滑动配合，第一齿轮(14)在滑移至与正齿轮(87)齐平时啮合于正齿轮(87)上，第一齿轮(14)在滑移至与第二齿轮(15)齐平时啮合于第二齿轮(15)上，所述第三齿轮(16)与反齿轮(88)啮合，所述机架(1)上还架设有气缸(17)，所述气缸(17)与第一传动轴(12)平行，气缸(17)的活塞杆上连接有推块(171)和勾块(172)，所述推块(171)和勾块(172)分别与第一齿轮(14)的两端面相抵。

6.根据权利要求5所述的晶圆测试用探针台，其特征在于：所述推块(171)朝向第一齿轮(14)一侧设有第一滚珠(174)，推块(171)通过第一滚珠(174)与第一齿轮(14)相抵，所述勾块(172)朝向第一齿轮(14)一侧设有第二滚珠(175)，勾块(172)通过第二滚珠(175)与第一齿轮(14)相抵。

7.根据权利要求5所述的晶圆测试用探针台，其特征在于：所述旋转电机(11)为步进电机。

8.根据权利要求1所述的晶圆测试用探针台，其特征在于：所述横移组件(84)包括横移座(841)、横移丝杆(842)和横移电机(843)，所述横移座(841)与底座(81)滑动配合，横移座(841)的滑移方向与底座(81)的滑移方向垂直，所述横移丝杆(842)沿横移座(841)的滑移方向设置，横移丝杆(842)穿设且螺接连接于横移座(841)上，所述横移电机(843)与横移丝杆(842)相连，所述纵移机构包括纵移座(851)、纵移丝杆(852)和纵移电机(853)，所述纵移座(851)与横移座(841)滑动配合，纵移座(851)的滑移方向与横移座(841)的滑移方向和底座(81)的滑移方向均垂直，所述纵移丝杆(852)沿纵移座(851)的滑移方向设置，纵移丝杆(852)穿设且螺接连接于纵移座(851)上，所述纵移电机(853)与纵移丝杆(852)相连。