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专利号: 2020107506490
申请人: 重庆理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于法-珀干涉的透明流体折射率的测量方法,其特征在于:包括以下步骤:

获取至少两个开放式的双光束法-珀干涉结构传感器,所有传感器的F-P腔的几何腔长值已知且互不相同,以传感器n和Ln分别表示第n个传感器以及该传感器F-P腔的几何腔长值;分别接入宽谱光源和光谱仪,入射光以垂直于传感器法-珀腔界面的方向入射,以能够获取其测量光谱图;

(b)将步骤(a)中的n个传感器的法-珀腔中填充满待测介质,获取各传感器的检测光功率谱Ir(λ),λ表示光波长,由入射光的功率谱Ii(λ)对检测光功率谱进行归一化处理,获得各传感器的归一化图谱R(λ)=Ir(λ)/Ii(λ);

(c)选取上述n个传感器在相同波段范围内的归一化图谱,分别获取各传感器归一化图谱中波谷的波长值,各自将归一化图谱中波谷的波长值按照从小到大进行排列,并以λn·m表示第n个传感器在该选取波段范围内第m个波谷的波长值;

(d)设置大于第n个传感器波谷数量的正整数Kn为第n个传感器的系数,分别描绘散点(λ1·m, (K1-m)λ1·m/2L1)在不同K1取值下、散点(λ2·m, (K2-m)λ2·m/2L2)在不同K2取值下、…、散点(λn·m, (Kn-m)λn·m/2Ln)在不同Kn取值下构成的曲线,获取散点(λ1·m, (K1-m)λ1·m/2L1)曲线、散点(λ2·m, (K2-m)λ2·m/2L2)曲线、…、散点(λn·m, (Kn-m)λn·m/2Ln)曲线重合度最高时K1、K2、…、Kn的取值,分别设置为H1、H2、…、Hn;

(H1-m)λ1·m/2L1即为待检测介质在λ1·m波长下的折射率,(H2-m)λ2·m/2L2即为待检测介质在λ2·m波长下的折射率,…,(Hn-m)λn·m/2Ln即为待检测介质在λn·m波长下的折射率;根据散点(λn·m, Knλn·m/2Ln)所描绘的曲线即为待检测介质折射率在步骤(c)中选取波段范围内的折射率曲线。