1.一种基于帕尔贴效应测量表面对流传热系数的系统，其特征在于，包括被测组件和测量组件，被测组件为平板(1)，测量组件包括直流电源(2)、帕尔贴制冷片(3)和测温装置；

帕尔贴制冷片(3)通过夹紧装置(4)与平板(1)夹紧固定，帕尔贴制冷片吸热端(3-2)与直流电源(2)连接；测温装置包括相互连接的温度传感器(5)和温度记录仪(6)，温度传感器A(5-

1)布置在帕尔贴制冷片吸热端(3-2)表面，温度传感器B(5-2)布置在帕尔贴制冷片散热端(3-3)表面。

2.根据权利要求1所述的基于帕尔贴效应测量表面对流传热系数的系统，其特征在于，所述夹紧装置(4)由螺栓(4-1)和夹板(4-2)组成，上下两块夹板(4-2)夹住帕尔贴制冷片(3)和平板(1)后，螺栓(4-1)依次穿过上下端铝合金夹板，将帕尔贴制冷片(3)和平板(1)夹紧固定。

3.根据权利要求1所述的基于帕尔贴效应测量表面对流传热系数的系统，其特征在于，所述帕尔贴制冷片散热端(3-3)与平板上表面(1-1)接触，两者夹层中均匀涂抹有导热硅脂(7)。

4.根据权利要求1所述的基于帕尔贴效应测量表面对流传热系数的系统，其特征在于，所述温度传感器(5)选用k型热电偶。

5.一种基于帕尔贴效应测量表面对流传热系数的方法，其特征在于，将所述基于帕尔贴效应测量表面对流传热系数的系统放置在流场中，平板下表面(1-2)与流体直接接触，帕尔贴制冷片散热端(3-3)对平板(1)进行加热，帕尔贴制冷片散热端(3-3)产生热流量Qh，帕尔贴制冷片散热端(3-3)的热流量即为通过平板上表面(1-1)的热流量Q，结合测量表面对流传热系数的系统传热方程，获取总传热系数k，基于等效热阻表征的总传热系数，得到平板下表面(1-2)与流体表面的传热系数；

所述热流量 其中α为帕尔贴制冷片(3)内部半导体材料

的塞贝克系数，I为直流电源提供的电流，RTEC为帕尔贴制冷片(3)的内阻，K为帕尔贴制冷片(3)的总导热系数，Th为帕尔贴制冷片散热端(3-3)的表面温度，Tc为帕尔贴制冷片吸热端(3-2)的表面温度；

所述总传热系数 其中A为帕尔贴制冷片散热端(3-3)与平板上表面(1-1)的

接触面积，Tf为流体温度；

所述等效热阻表征的总传热系数 其中δs为平板(1)的厚度，λs为平板(1)的导热系数，h为平板下表面(1-2)与流体表面的传热系数，δc为导热硅脂(7)的厚度，λc为导热硅脂(7)的导热系数。

6.根据权利要求5所述的基于帕尔贴效应测量表面对流传热系数的方法，其特征在于，所述Tc由温度传感器A(5-1)测量得到，Th由温度传感器B(5-2)测量得到。

7.根据权利要求5所述的基于帕尔贴效应测量表面对流传热系数的方法，其特征在于，所述流体温度由k型热电偶和温度记录仪测量获取。