1.一种基于交叉偏振的光谱测量系统，其特征在于，包括交叉偏振光学系统和光电转换器（7），所述光学系统包括球形壳体（1）和按几何架构分布在球形壳体（1）上的LED光源（2），所述LED光源（2）带有线性偏振滤色片，所述球形壳体（1）两端设置有样品反射孔（3）和反射光出射孔（4），所述反射光出射孔（4）的光通路依次设置有遮光挡板（9）、第一线性偏振滤色片（5）、平场凹面光栅（6）和光电转换器（7）；

所述LED光源（2）包括外壳和外壳内依次设置的LED发光单元（10）、漫透射蒙板（11）和第二线性偏振滤色片（12），所述第二线性偏振滤色片（12）可旋转固定在外壳内；

所述LED光源（2）的几何架构分布为在仰角45°圆周范围内，均匀分布6个LED光源（2），方位角夹角为60°； 在仰角90°圆周范围内，均匀分布8个LED光源（2），方位角夹角为45°。

2.根据权利要求1所述的基于交叉偏振的光谱测量系统，其特征在于，还包括信号处理系统（8），所述信号处理系统（8）连接所述光电转换器（7）的电信号输出端。

3.根据权利要求2所述的基于交叉偏振的光谱测量系统，其特征在于，所述样品反射孔（3）和所述反射光出射孔（4）的中心点连线与球形壳体（1）垂直轴线的夹角为8度。

4.根据权利要求2所述的基于交叉偏振的光谱测量系统，其特征在于，所述光电转换器（7）采用线阵CCD。

5.一种基于交叉偏振的光谱测量方法，应用于权利要求1‑4任一项所述的基于交叉偏振的光谱测量系统，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1，放置待测样品，将样品反射孔（3）与待测样品表面相对接；

步骤S2，记录光电转换器（7）的电信号D（λ）；

步骤S3，将待测样品替换为校正标准白板；

步骤S4，记录光电转换器（7）的电信号D0（λ）；

步骤S5，根据如下公式计算得到样品的光谱反射率：R= Rsd（λ）×D（λ）/D0（λ）

其中，Rsd（λ）为校正标准白板的光谱反射率。

6.一种基于交叉偏振的光谱测量方法，应用于权利要求1‑4任一项所述的基于交叉偏振的光谱测量系统，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1，放置校正标准白板，将样品反射孔（3）与校正标准白板表面相对接；

步骤S2，记录光电转换器（7）的电信号D0（λ）；

步骤S3，将校正标准白板替换为待测样品；

步骤S4，记录光电转换器（7）的电信号D（λ）；

步骤S5，根据如下公式计算得到样品的光谱反射率：R= Rsd（λ）×D（λ）/D0（λ）

其中，Rsd（λ）为校正标准白板的光谱反射率。