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专利号: 2020107796065
申请人: 曲阜师范大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于交叉偏振的六通道多光谱测量系统,其特征在于,包括多光谱光学系统,所述多光谱光学系统包括球形漫反射壳体(1)和按几何架构分布在球形漫反射壳体(1)上的照明光源(2),所述照明光源(2)带有第二线性偏振滤色片(12),所述球形漫反射壳体(1)上设置有样品反射孔(3)和2个信号测量窗(4),所述信号测量窗(4)的光通路均依次设置有遮光挡板(5)、第一线性偏振滤色片(6)、带通吸收滤色片(7)和成像系统(8);所述基于交叉偏振的六通道多光谱测量系统通过以下方法测量:步骤S1,放置待测样品,将样品反射孔(3)与待测样品表面相对接;

步骤S2,获取2个信号测量窗(4)的多光谱信号D6,并进行二阶多项式扩展为28维数据矩阵,记为Dtest;

步骤S3,通过光谱重建模型得到待测样品的光谱反射率R;

所述步骤S3具体包括如下步骤:

步骤S301,将训练样本集通过分光光度计测量光谱反射率数据,其中:光谱反射率为

400nm‑700nm,间隔10nm均匀采样的31维数据,记为R31×n;

步骤S302,将训练样本集通过所述的基于交叉偏振的六通道多光谱测量系统获取6通道信号,并进行二阶多项式扩展为28维数据矩阵,记为D28×n;

步骤S303,根据如下公式(1)构建多光谱信号与光谱反射率之间的映射矩阵Q,+Q=R31×nW(D28×nW) (1)

其中,W为权重矩阵,表示被测样本与训练样本集中色块的相似度;

步骤S304,根据如下公式(2)重建被测样本的光谱反射率R,

R=QDtest (2)。

2.根据权利要求1所述的基于交叉偏振的六通道多光谱测量系统,其特征在于,还包括信号处理系统(9),所述信号处理系统(9)连接所述成像系统(8)的电信号输出端。

3.根据权利要求1所述的基于交叉偏振的六通道多光谱测量系统,其特征在于,所述照明光源(2)的几何架构分布为在仰角45°圆周范围内,均匀分布6个照明光源(2),方位角夹角为60°;在仰角90°圆周范围内,均匀分布8个照明光源(2),方位角夹角为45°。

4.根据权利要求1所述的基于交叉偏振的六通道多光谱测量系统,其特征在于,所述照明光源(2)包括外壳和外壳内依次设置的发光单元(10)、漫透射蒙板(11)和第二线性偏振滤色片(12),所述第二线性偏振滤色片(12)可旋转固定在外壳内。

5.根据权利要求1所述的基于交叉偏振的六通道多光谱测量系统,其特征在于,所述信号测量窗(4)的带通吸收滤色片(7)一个为吸收红色光波段的BG39,另一个为吸收蓝色光波段的GG475。

6.根据权利要求1所述的基于交叉偏振的六通道多光谱测量系统,其特征在于,所述2个信号测量窗(4)对称分布于球形漫反射壳体(1),所述样品反射孔(3)和每个所述信号测量窗(4)的中心点连线与球形漫反射壳体(1)垂直轴线的夹角均为8度。

7.根据权利要求1所述的基于交叉偏振的六通道多光谱测量系统,其特征在于,所述成像系统(8)采用带镜头的面阵CCD。