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专利号: 2020108052832
申请人: 长春理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 光学
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种离轴宽波段反射式同时偏振成像系统,其特征是,其包括子孔径反射镜一(1)、子孔径反射镜二(2)、子孔径反射镜三(3)、子孔径反射镜四(4)、次反射镜(5)、三反射镜(6)和四区域偏振探测器(7),目标光能量同时经子孔径反射镜一(1)、反射镜二(2)、反射镜三(3)和反射镜四(4)反射后,再被所述的次反射镜(5)和三反射镜(6)依次反射,最终依次成像在四区域偏振探测器(7)的感光面的四个象限上;

所述的子孔径反射镜一(1)、子孔径反射镜二(2)、子孔径反射镜三(3)、子孔径反射镜四(4)和三反射镜(6)的面形均为自由曲面,次反射镜(5)为平面反射镜;

所述的子孔径反射镜一(1)、子孔径反射镜二(2)、子孔径反射镜三(3)、子孔径反射镜四(4)和三反射镜(6)的光焦度均为正;子孔径反射镜一(1)的孔径偏心量为(a,4a),子孔径反射镜二(2)的孔径偏心量为(‑a,4a),子孔径反射镜三(3)的孔径偏心量为(a,2a),子孔径反射镜四(4)的孔径偏心量为(‑a,2a),其中a为2.5mm,每个子孔径的入瞳直径大小为2a;子孔径反射镜一(1)、子孔径反射镜二(2)、子孔径反射镜三(3)和子孔径反射镜四(4)四个面形函数的原点与次反射镜(5)的距离为18.008mm;次反射镜(5)到三反射镜(6)的距离为

17.500mm;三反射镜(6)到四区域探测器(7)的距离为13.994mm。

2.根据权利要求1所述的一种离轴宽波段反射式同时偏振成像系统,其特征在于,所述的次反射镜(5)、三反射镜(6)和四区域偏振探测器(7)的中心切面为同一表面;子孔径反射镜一(1)和子孔径反射镜二(2)的反射面表面形状相同,且关于所述中心切面对称;所述的子孔径反射镜三(3)和子孔径反射镜四(4)的反射面表面形状相同,且关于所述中心切面对称。

3.根据权利要求1所述的一种离轴宽波段反射式同时偏振成像系统,其特征在于,所述的子孔径反射镜三(3)和子孔径反射镜四(4)绕x轴有倾斜,倾斜角度一致,在0~5°之间。

4.根据权利要求1所述的一种离轴宽波段反射式同时偏振成像系统,其特征在于,三反射镜(6)具有孔径偏心、整体偏心和整体倾斜,相对于(x,y,z)坐标系,三反射镜(6)在y方向的孔径偏心范围在‑5~‑20mm之间,在y方向整体偏心1‑1.5mm之间,绕x轴倾斜在‑5°~‑10°之间。

5.根据权利要求1所述的一种离轴宽波段反射式同时偏振成像系统,其特征在于,所述四区域偏振探测器(7)的感光面分为四个象限,且各象限包含的像元数量相等;每个象限的像元前面分别附着微偏振片,材质为金属纳米线栅;不同象限的微偏振片偏振方向不同,分别为0°,45°,90°,135°。

6.根据权利要求1所述的一种离轴宽波段反射式同时偏振成像系统,其特征在于,四区域偏振探测器(7)的感光面具有整体倾斜,相对于(x,y,z)坐标系,倾斜范围为绕x轴倾斜0~5°。