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专利号: 2020108070421
申请人: 中国地质大学(武汉)
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种导热系数测量仪的多项式回归校准方法,其特征在于,包括以下步骤:S1选取多种不同材质的试样,利用特定导热系数测量仪对所述试样分别进行加热并实时测量温度,记录所述试样的加热时间和对应的反映温度的温度参数,得到各个所述试样的温度参数-加热时间对数曲线;

S2选取各个所述温度参数-加热时间对数曲线的线性部分,求出所述线性部分的斜率的倒数x;

S3分别测试各个所述试样的高精度导热系数值λ;

S4利用步骤S2得到的x值和步骤S3得到的λ值进行多项式回归分析,得到基于所述特定导热系数测量仪的瞬态导热系数关系式为:式中,λ为高精度导热系数值,x为温度-时间对数曲线的线性部分的斜率的倒数,n代表总共有n项,k为每项前的系数,i=0,1,2…n。

2.如权利要求1所述的导热系数测量仪的多项式回归校准方法,其特征在于,所述特定导热系数测量仪为基于热线法的瞬态导热系数测量仪。

3.如权利要求1所述的导热系数测量仪的多项式回归校准方法,其特征在于,所述特定导热系数测量仪为基于热带法的瞬态导热系数测量仪。

4.如权利要求1所述的导热系数测量仪的多项式回归校准方法,其特征在于,利用标准稳态法分别测试各个所述试样的高精度导热系数值。

5.如权利要求1所述的导热系数测量仪的多项式回归校准方法,其特征在于,所述试样的种类至少为5种。

6.如权利要求1所述的导热系数测量仪的多项式回归校准方法,其特征在于,所述试样的温度参数为温度数据。

7.如权利要求1所述的导热系数测量仪的多项式回归校准方法,其特征在于,所述试样的温度参数为用热电偶将温度数据进行转化后的电压数据。