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专利号: 2020108380521
申请人: 瑞容光电科技(江苏)有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:授权未缴费
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-08-02
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种芯片检测装置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的内表面设置有外杆(19),所述外杆(19)的内表面底端设置有橡胶凸块(38),所述橡胶凸块(38)的上端外表面设置有拉伸弹簧(21),所述拉伸弹簧(21)的上端外表面设置有第二限位块(26),所述第二限位块(26)的上端外表面设置有内轴(20),所述内轴(20)的上端外表面设置有长旋转轴(23),所述长旋转轴(23)的下端设置有清洁刷(24),所述清洁刷(24)的下端外表面设置有横向槽(22),所述横向槽(22)的上端对应长旋转轴(23)的上端外表面设置有横向把手(25),所述底座(1)的内端设置有支撑杆(2),所述支撑杆(2)的两端设置有侧杆(3),所述侧杆(3)的外表面设置有旋转纽扣(5),所述旋转纽扣(5)的外表面设置有短旋转轴(4),所述短旋转轴(4)的外表面设置有上夹板(9),所述上夹板(9)的下端设置有下夹板(10),所述上夹板(9)与下夹板(10)的右端对应短旋转轴(4)的左端设置有环扣杆(6),所述环扣杆(6)的中央外表面设置有第一限位块(13),所述第一限位块(13)的下端设置有内弹簧(8),所述内弹簧(8)的外表面设置有定位空心杆(7),所述短旋转轴(4)的上端对应侧杆(3)的内端设置有螺纹杆(14),所述螺纹杆(14)的上端设置有旋转把手(15),所述旋转把手(15)的上端设置有上模板(27),所述上模板(27)的下端外表面设置有检测针(28),所述检测针(28)的外端对应上模板(27)的上下两端设置有横向滑槽(32),所述横向滑槽(32)的外端设置有横向滑块(33),所述横向滑块(33)的外端设置有保护壳(29),所述保护壳(29)的前端设置有固定孔(31),所述固定孔(31)的外表面设置有固定塞(30),所述保护壳(29)的上端设置有方形槽(37),所述方形槽(37)的内端对应上模板(27)的上端设置有外伸缩杆(35),所述外伸缩杆(35)的上端内表面设置有内伸缩杆(36),所述外伸缩杆(35)与内伸缩杆(36)的外表面设置有挤压弹簧(34);

所述底座(1)的内表面与外杆(19)之间固定连接,所述橡胶凸块(38)的形状为凸字形,且其下端外表面直径等于外杆(19)的内表面直径大小,所述橡胶凸块(38)的上端外表面与拉伸弹簧(21)的下端、拉伸弹簧(21)的上端外表面与第二限位块(26)之间均固定连接,且第二限位块(26)的横截面大小略小于外杆(19)的内表面横截面大小;

所述第二限位块(26)的上端外表面与内轴(20)之间固定连接,所述内轴(20)的上端外表面与长旋转轴(23)之间活动连接,且长旋转轴(23)的宽度大于内轴(20)的宽度,所述长旋转轴(23)的下端与清洁刷(24)之间固定连接,且清洁刷(24)的长度小于长旋转轴(23)的长度,所述横向槽(22)的截面大小大于长旋转轴(23)的截面大小;

所述支撑杆(2)的长度小于底座(1)的长度,且支撑杆的下端外表面与底座的内表面之间固定连接,所述支撑杆(2)的两端均与侧杆(3)之间固定连接,所述侧杆(3)的上端设置有贯穿孔,且贯穿孔的形状为两端半圆中央长方形,所述旋转纽扣(5)位于贯穿孔所对应的外表面,且短旋转轴(4)与贯穿孔之间滑动连接,所述短旋转轴(4)与旋转纽扣(5)之间固定连接,且短旋转轴(4)的另一端设置有螺纹短杆,所述螺纹短杆的外表面设置有外壳。

2.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置,其特征在于:所述上夹板(9)与下夹板(10)均位于外壳的外端,且上夹板(9)与外壳之间固定连接,所述上夹板(9)与下夹板(10)对应的表面设置有橡胶块(11),外壳的外表面对应下夹板(10)的外表面设置有竖向滑槽(12),所述下夹板(10)通过竖向滑槽(12)与环扣杆之间固定连接,所述第一限位块(13)位于下夹板(10)的上下两端,与下夹板(10)之间固定连接,所述第一限位块(13)的形状为工字型。

3.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置,其特征在于:所述内弹簧(8)与环扣杆(6)之间固定连接,所述定位空心杆(7)的下端外表面与外壳的下端内表面固定连接,所述侧杆(3)与旋转把手(15)之间通过螺纹杆(14)活动连接,所述侧杆(3)的内端对应底座(1)的上端外表面设置有下板(17),所述下板(17)的上端设置有压缩弹簧(18),且压缩弹簧(18)的数量为四组,所述压缩弹簧(18)的上端设置有上板(16),所述上板(16)与下板(17)的形状大小均匀相同,且上板(16)与下板(17)的长度均小于支撑杆(2)的长度。

4.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置,其特征在于:所述上模板(27)的大小等于上板(16)或下板(17)的大小,所述上模板(27)的下端外表面与检测针(28)之间固定连接,所述上模板(27)的上下两端均与横向滑槽(32)之间固定连接,且横向滑槽(32)的数量为四组。

5.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置,其特征在于:所述横向滑槽(32)的外端与横向滑块(33)之间滑动连接,所述横向滑块(33)的外端与保护壳(29)之间固定连接,所述保护壳(29)对应于上模板(27)的中央呈水平对称,所述固定孔(31)的数量为两组,所述保护壳(29)的前端外表面与固定塞(30)之间通过固定孔(31)活动连接。

6.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置,其特征在于:所述方形槽(37)的宽度大于外伸缩杆(35)的宽度,所述外伸缩杆(35)与内伸缩杆(36)之间滑动连接,所述挤压弹簧(34)的横截面大小大于外伸缩杆(35)的横截面大小。

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