1.基于隐马尔可夫模型的电路测试方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤一：自动测试向量生成工具根据导入的电路结构图随机生成针对该电路的测试向量集；

步骤二：根据随机生成的测试向量集，进行电路测试并基于隐马尔可夫模型判断电路是否温度过高；

步骤三：若电路不存在温度过高问题则直接将测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试；若电路存在温度过高问题，对测试向量集进行重排序减少测试向量之间的翻转得到更新的测试向量集，将更新的测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试。

2.根据权利要求1所述的基于隐马尔可夫模型的电路测试方法，其特征在于，所述步骤二包括：获取电路的功耗，根据电路的功耗与温度的线性关系获取电路的测试向量集中每个测试向量的温度，若存在单个测试向量或者多个测试向量的温度超过预设值则该电路存在温度过高的问题，需要进行测试向量集重排序。

3.根据权利要求2所述的基于隐马尔可夫模型的电路测试方法，其特征在于，所述步骤二还包括：扫描链长度为l，第i个测试向量集为Vi＝Vi,*1,Vi,*2,Vi,*3···Vi,*N，其中Vi,*1先于Vi,*2被移入扫描链，Vi,*N表示第i个测试向量集的第N个测试向量；

通过公式 获取电路的峰值功耗；

测试过程中温度受功耗以及运行时间影响，功耗越高的向量其增加的温度越高，功耗与温度呈线性关系，通过公式获取电路中第j个测试向量的温度。

4.根据权利要求1所述的基于隐马尔可夫模型的电路测试方法，其特征在于，所述步骤三包括：获取一条全是0的初始化向量，将测试向量集中的所有向量与初始化向量进行异或，选取与初始化向量异或最少的一条向量作为第一条向量，将剩余的向量与第一条向量进行异或，选取异或最少的向量作为第二条向量，以此类推，把测试向量集中所有向量都比较完成，得到一个更新的测试向量集。

5.根据权利要求4所述的基于隐马尔可夫模型的电路测试方法，其特征在于，所述初始化向量的子向量个数与测试向量集中单个向量的子向量个数相同。

6.根据权利要求5所述的基于隐马尔可夫模型的电路测试方法，其特征在于，所述异或表示对初始化向量中子向量以及测试向量集的某个向量按照顺序进行比较，若测试向量集的某个向量与初始化向量同一位置的向量相同则表示不存在异或，若测试向量集的某个向量与初始化向量同一位置的向量相反则表示存在异或。

7.根据权利要求4所述的基于隐马尔可夫模型的电路测试方法，其特征在于，所述步骤三还包括：将测试向量集中的所有向量与初始化向量进行异或，当测试向量集中与初始化向量异或最少的向量有多条时，随机选取一条作为第一条向量，将剩余的向量与第一条向量进行异或，当剩余的向量中与第一条向量异或最少的向量有多条时，随机选取一条作为第二条向量。

8.一种集成电路存储介质，其特征在于，存储有与自动测试向量生成工具结合使用的计算机程序，所述计算机程序可被处理器执行以完成权利要求1-7任一项所述的方法。

9.基于隐马尔可夫模型的电路测试装置，其特征在于，所述装置包括：

测试向量集生成模块，用于自动测试向量生成工具根据导入的电路结构图随机生成针对该电路的测试向量集；

判断模块，用于根据随机生成的测试向量集，进行电路测试并基于隐马尔可夫模型判断电路是否温度过高；

测试模块，用于若电路不存在温度过高问题则直接将测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试；若电路存在温度过高问题，对测试向量集进行重排序减少测试向量之间的翻转得到更新的测试向量集，将更新的测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试。

10.根据权利要求9所述的基于隐马尔可夫模型的电路测试装置，其特征在于，所述判断模块还用于：获取电路的功耗，根据电路的功耗与温度的线性关系获取电路的测试向量集中每个测试向量的温度，若存在单个测试向量或者多个测试向量的温度超过预设值则该电路存在温度过高的问题，需要进行测试向量集重排序。