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专利号: 2020110158623
申请人: 西安理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.可同时检测太赫兹波偏振度及时域波形的探测天线阵列,其特征在于,包括M行具有水平电极的天线阵元和N行具有竖直电极的天线阵元,相邻两行具有水平电极的天线阵元之间设置一行具有竖直电极的天线阵元。

2.根据权利要求1所述的可同时检测太赫兹波偏振度及时域波形的探测天线阵列,其特征在于,每行所述具有水平电极的天线阵元中包括a对具有水平电极的天线阵元;每对具有水平电极的天线阵元中包括天线阵元电极I和天线阵元电极II,相邻两个天线阵元电极I之间依次连接,相邻两个天线阵元电极II之间依次连接;

每行具有竖直电极的天线阵元中包括b对具有竖直电极的天线阵元;具有竖直电极的天线阵元中包括天线阵元电极III和天线阵元电极IV,相邻两个天线阵元电极III之间依次连接,相邻两个天线阵元电极IV之间依次连接;且a=b;

位于端部的天线阵元电极I连接至焊盘C上,位于端部的天线阵元电极II连接至焊盘A上;

位于端部的天线阵元电极III连接至焊盘D上,位于端部的天线阵元电极IV连接至焊盘B上。

3.根据权利要求2所述的可同时检测太赫兹波偏振度及时域波形的探测天线阵列,其特征在于,所述天线阵元电极I、天线阵元电极II、天线阵元电极III及天线阵元电极IV均制备于GaAs衬底材料上,然后安装于均安装于支撑衬底材料上。

4.根据权利要求3所述的可同时检测太赫兹波偏振度及时域波形的探测天线阵列,其特征在于,所述支撑衬底材料选用石英、聚乙烯、聚四氟乙烯中的一种。

5.根据权利要求3所述的可同时检测太赫兹波偏振度及时域波形的探测天线阵列,其特征在于,所述焊盘A和焊盘B与SMA接口I连接,焊盘C和焊盘D与SMA接口II连接。

6.根据权利要求5所述的可同时检测太赫兹波偏振度及时域波形的探测天线阵列,其特征在于,所述焊盘A、焊盘B、焊盘C、焊盘D、SMA接口I及SMA接口II安装于PCB印刷电路板上,所述M行具有水平电极的天线阵元和N行具有竖直电极的天线阵元构成的天线阵列粘接在PCB印刷电路板的几何中心。