欢迎来到知嘟嘟! 联系电话:13095918853 卖家免费入驻,海量在线求购! 卖家免费入驻,海量在线求购!
知嘟嘟
我要发布
联系电话:13095918853
知嘟嘟经纪人
收藏
专利号: 2020111719945
申请人: 天津理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
价格&联系人
年费信息
委托购买

摘要:

权利要求书:

1.一种受散斑效应影响的自混合干涉信号的处理与条纹计数方法,其特征在于,所述方法包括:使用VMD分解法对信号进行分离,滤除信号中的低频噪声与高频噪声,滤波后的信号均为以x轴为对称;

使用希尔伯特变换算法对滤波后的信号进行包络信号的提取;根据解析信号的模值获取包络信号,将信号根据包络信号等比例的变为最大值为1,最小值为‑1的正弦信号;

对正弦信号进行干涉条纹的计数;

所述对正弦信号进行干涉条纹的计数具体为:

将第一个点设为i=1,判断i=1这一点的值是否小于零,与后一个点i=2的值是否大于零来判断是否对这个条纹进行计数,如果符合条件,则计数结果加1;如果不符合条件,则计数结果保持不变;

对i+1继续判定下一个点,再判定i=2与i=3两点值的乘积是否小于零,如果是,结果加1,以此类推,直至检测完信号的最后一个数据,以实现对干涉条纹的计数。