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专利号: 2020112040325
申请人: 广西师范大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-11-18
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种多温度起始磁化曲线校准方法,包括以下步骤:

1)获得被测材料的较大质量的样品,采用超导量子磁强计测量该样品在一个较小磁场强度下的磁化强度‑温度曲线;其中,所述较大质量的样品为3 5mg,所述较小磁场强度为~

1000 5000奥斯特;

~

2)获得n个被测材料的较小质量的样品,预设n个选定温度,以一个样品对应一个选定温度的方式采用超导量子磁强计或振动样品磁强计测量这些样品在相应选定温度下的起始磁化曲线,得到n条待校准起始磁化曲线;其中,所述较小质量的样品为1 2mg;

~

3)利用步骤1)所得的磁化强度‑温度曲线,求取步骤2)所得各条待校准起始磁化曲线的校正系数bi;具体实现步骤包括:

3.1)在步骤1)所得的磁化强度‑温度曲线上找出对应于步骤2)中选定温度的点,分别记录与这些点对应的磁化强度,记为MDi;

3.2)在步骤2)所得的各条待校准起始磁化曲线上分别找出对应于步骤1)中所述较小磁场强度的点,分别记录与这些点对应的磁化强度,记为MEi;

3.3)利用公式bi =MDi /MEi求得步骤2)所得各条待校准起始磁化曲线的校正系数bi;

4)根据步骤3)所得各条待校准起始磁化曲线的校正系数bi对相应的待校准起始磁化曲线进行校准;

上述各步骤中,n为大于或等于1的正整数;i为正整数,其取值范围为[1,n];

步骤1)和步骤2)中,所述被测材料为PrFe2合金。

2.根据权利要求1所述的多温度起始磁化曲线校准方法,其特征是,步骤4)中,所述根据步骤3)所得各条待校准起始磁化曲线的校正系数bi对相应的待校准起始磁化曲线进行校准是指,将所述待校准起始磁化曲线的各磁化强度数值分别乘以与所述待校准起始磁化曲线对应的校正系数,所得新的磁化强度数值构成的曲线即为校准后的起始磁化曲线。