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专利号: 2020112222639
申请人: 西安工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种用于偏振成像的分辨率板,包括透明基板,所述透明基板上镀制有带有分辨率图案的低反射率铬膜,透明基板上分割为四个区域,包括用于测量偏振状态的斯托克斯参数S0的完整镀制低反射率铬膜的区域,还包括镀制用于测量偏振状态的斯托克斯参数S1、 S2和S3的图案区域;

分辨率基板上叠置水平线偏振片并将两者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S1的偏振成像系统的分辨率;

所述分辨率基板上叠置45°线偏振片并将两者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S2的偏振成像系统的分辨率;

所述分辨率基板上顺序叠置四分之一波片和45°线偏振片并将三者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S3的偏振成像系统的分辨率。