1.一种提高同分异构体化合物鉴别能力的方法，其特征在于，采用离子淌度-质谱仪进行，所述离子淌度-质谱仪包括离子源、碰撞池、离子淌度谱和质量分析器；

具体包括如下步骤：

S1.利用离子源将同分异构体化合物样品离子化产生同分异构体离子；

S2.调节碰撞池的入口与出口之间的电势差为30～45V，并使S1.所得同分异构体化合物离子通过碰撞池；

S3.同分异构体化合物离子从碰撞池进入离子淌度谱中分离，质量分析器检测并获得质谱图。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S1.中，当所述同分异构体化合物样品为液体样品时，将其溶液装入纳喷针，采用电喷雾电离的方式进行离子化产生离子。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述纳喷针曲率直径为100nm～10μm。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S1.中，当所述同分异构体化合物样品为固体样品时，采用固体采样离子源离子化产生同分异构体离子。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述固体采样离子源为电喷雾电离源ESI、解吸电喷雾源DESI、激光解吸/电离源LDI或基质辅助激光解吸/电离源MALDI的任意一种。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述碰撞池以惰性气体填充。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述惰性气体为氮气、氩气、氦气或氢气中的任意一种或混合。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S2.中，所述碰撞池的入口与出口之间的电势差为40±2V。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述同分异构体化合物为含糖基的同分异构体化合物。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述离子淌度谱为漂移时间离子淌度谱DTIMS、行波离子淌度谱TWIMS、场不对称离子淌度谱FAIMS的任意一种。