1.一种绝对波阻抗反演成像方法，其特征在于，包括以下步骤：采集勘探现场的井控数据，提取所述井控数据中阻抗的低波数部分Alow；

获取地震数据，对所述地震数据进行高斯束偏移，获得反射系数R；

将所述反射系数R和所述阻抗的低波数部分Alow输入绝对波阻抗反演模型进行约束计算，获得绝对波阻抗Z；

通过所述绝对波阻抗Z获得波阻抗剖面图像。

2.根据权利要求1所述的一种绝对波阻抗反演成像方法，其特征在于，所述提取所述井控数据中阻抗的低波数部分Alow，包括：提取所述井控数据中的背景速度和背景密度；

将所述背景速度与所述背景密度相乘，获得阻抗的低波数部分Alow。

3.根据权利要求2所述的一种绝对波阻抗反演成像方法，其特征在于，所述对所述地震数据进行高斯束偏移，获得反射系数R，包括：对所述地震数据进行常规高斯束偏移成像，获得偏移图像数据；

通过所述背景速度计算获得地下振幅补偿函数点扩散函数PSF；

将所述PSF和所述偏移图像数据通过反褶积计算，获得反射系数R。

4.根据权利要求1所述的一种绝对波阻抗反演成像方法，其特征在于，所述将所述反射系数R和所述阻抗的低波数部分Alow输入绝对波阻抗反演模型进行约束计算，获得绝对波阻抗Z，包括：

根据所述反射系数R和所述阻抗的低波数部分Alow通过声阻抗AI剖面计算公式进行循环计算，获得绝对波阻抗Z。

5.根据权利要求4所述的一种绝对波阻抗反演成像方法，其特征在于，所述声阻抗AI剖面计算公式具体为：

其中，Alow为阻抗的低波数部分，L为低通滤波器，R为反射系数，||A||TV为一阶TV范数，A为阻抗的半自然对数， 为反射层法向的垂直一阶差分算子。

6.根据权利要求5所述的一种绝对波阻抗反演成像方法，其特征在于，所述根据所述反射系数R和所述阻抗的低波数部分Alow通过声阻抗AI剖面计算公式进行循环计算，获得绝对波阻抗Z，包括：

k k+1 i+1

设置计算参数，包括：s , A ,R ；

k k+1

其中s , 为自定义参数，A 为进行了k+1次循环的阻抗的半自然对数，i+1

R 为反射系数；i为整数，i的取值范围为0到m‑1；k为整数，k的取值范围为0到n‑1；

设置所述计算参数的初始值，并获取第一公式、第二公式和第三公式；

所述第一公式、所述第二公式和所述第三公式均从所述计算参数的初始值开始计算，0

令i和k的初始值均为0， R ＝R，所述阻抗的半自然对数A的初始值为0；

k+1

将所述计算参数带入所述第一公式进行计算，获得更新后的A ，所述第一公式具体为：

其中， 是横向一阶差分算子， 是纵向一阶差分算子，μ为数据匹配项，γ为背景阻抗的权重，λ为一阶正则化参数；

k+1

所述第一公式计算完成后将所述更新后的A 带入所述第二公式进行计算，获得更新k

后的s , 所述第二公式具体为：k

所述第二公式计算完成后，k值加1，将数值加一后的k、所述更新后的s ,k+1

和所述更新后的A 带入所述第一公式进行计算，获得更新后的A；

i+1 n

循环更新A的值n次后，i的值加一，且令A ＝A，k的值归零；

i+1

将数值加一后的i带入所述第三公式进行计算，获得更新后的 和R ，所述第三公式具体为：

i+1

将所述数值加一后的i、归零后的k、所述更新后的 和R 带入所述第一公式，再次循环更新A的值n次；

重复更新i的值m次；

总共将所述A的值更新m*n次，获得绝对阻抗的半自然对数A′；

将所述A′带入第四公式进行计算获得绝对波阻抗Z，所述第四公式具体为：Z＝exp(2*A′) 。

7.一种绝对波阻抗反演成像装置，其特征在于，所述一种绝对波阻抗反演成像装置包括：

第一数据提取模块，用于采集勘探现场的井控数据，提取所述井控数据中阻抗的低波数部分Alow；

第二数据提取模块，用于获取地震数据，对所述地震数据进行高斯束偏移，获得反射系数R；

计算模块，用于将所述反射系数R和所述阻抗的低波数部分Alow输入绝对波阻抗反演模型进行约束计算，获得绝对波阻抗Z；

图像生成模块，用于通过所述绝对波阻抗Z获得波阻抗剖面图像。

8.一种绝对波阻抗反演成像设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的绝对波阻抗反演成像程序，所述绝对波阻抗反演成像程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的一种绝对波阻抗反演成像方法的步骤。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有绝对波阻抗反演成像程序，所述绝对波阻抗反演成像程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的一种绝对波阻抗反演成像方法的步骤。