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专利号: 2020115368276
申请人: 徐州工程学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种不规则形状成形件内部缺陷的空间定位方法,其特征在于,将被检不规则形状成形件置入T形结构成形件内槽中,采用灌注粉末并压实的方法将其补成规则形状成形件组成T形结构组合件,然后对T形结构组合件进行射线检测,进而确定其内部缺陷的空间位置,实现不规则形状成形件中缺陷的空间定位,具体步骤如下:(1)选择T形结构成形件,在T形结构成形件中加工与被检不规则形状成形件间隙配合的内槽,将被检不规则形状成形件插入T形结构成形件的内槽中,并封住T形结构成形件内槽一端;

(2)从内槽另一端向槽内添加与被检不规则形状成形件同种材质的粉末,并加压压实,使被检不规则成形件在内槽中转换为规则形状成形件,将粉末注入端也封闭,组成T形结构组合件;

(3)将T形结构组合件进行左右旋转,用X射线检测获得其左右转得到的X射线检测图像;所述T形结构组合件左右旋转的角度为35度至55度;

(4)利用两幅X射线检测图像中各部分之间的几何关系建立缺陷深度和偏移量计算的数学模型,计算得到不规则形状成形件中多个缺陷的空间定位。

2.根据权利要求1所述的不规则形状成形件内部缺陷的空间定位方法,其特征在于,所述T形结构件与被检不规则形状成形件材质相同,且T形结构件内无缺陷。

3.根据权利要求1所述的不规则形状成形件内部缺陷的空间定位方法,其特征在于,所述T形结构组合件左右旋转的角度优选为35度至55度。

4.根据权利要求1或3所述的不规则形状成形件内部缺陷的空间定位方法,其特征在于,所述T形结构组合件左右旋转的角度为45度。

5.根据权利要求1所述的不规则形状成形件内部缺陷的空间定位方法,其特征在于,步骤4中所述的缺陷深度计算的数学模型为:所述缺陷偏移量的数学模型为:

6.根据权利要求1或5所述的不规则形状成形件内部缺陷的空间定位方法,其特征在于,当α=45°时,缺陷深度计算的数学模型为:所述缺陷偏移量计算的数学模型如下:式中:h为缺陷深度,即缺陷到被检不规则形状成形件下端表面的距离;

dl为T形结构组合件右转时缺陷中心点到X射线穿透组合体最薄处的投影距离;

dr为T形结构组合件左转时缺陷中心点到X射线穿透组合体最薄处的投影距离;

α为T形结构组合件左、右旋转的角度;

W为T形结构件的腹板宽度;

k为内槽下表面距T形结构件翼板下表面距离;

δ为T形结构件翼板厚度;

x为缺陷偏离被检件中心线的距离。

7.根据权利要求1或4或5所述的不规则形状成形件内部缺陷的空间定位方法,其特征在于,根据上述数学模型确定缺陷的空间定位计算方法是:(1)测量T形结构件的腹板宽度W、翼板厚度δ、内槽下表面距翼板下表面距离k;

(2)确定T形结构组合件左右旋转角度;

(3)通过对T形结构组合件左右旋转后获得的X射线检测图像进行缺陷分割和缺陷细化获得dl和dr两个投影距离;

(4)将上述数据代入公式(2)得到偏移量x值;

(5)把上述数据代入公式(1)确定缺陷深度h值;

(6)然后对检测图像处理获得缺陷沿被检不规则形状成形件纵向分布。

8.根据权利要求1或4或5或6所述的不规则形状成形件内部缺陷的空间定位方法,其特征在于,当α=45°时,根据上述数学模型确定缺陷的空间定位计算方法是:(1)测量T形结构件的腹板宽度W、翼板厚度δ、内槽下表面距翼板下表面距离k;

(2)确定T形结构组合件左右旋转角度为45°;

(3)通过对T形结构组合件左右旋转后获得的X射线检测图像进行缺陷分割和缺陷细化获得dl和dr两个投影距离;

(4)把上述数据代入公式(4)确定偏移量x值;

(5)将上述数据代入公式(3)得到缺陷深度h值。

9.根据权利要求6所述的不规则形状成形件内部缺陷的空间定位方法,其特征在于,所述缺陷细化是指将缺陷细化至其缺陷中心点。

10.根据权利要求7所述的不规则形状成形件内部缺陷的空间定位方法,其特征在于,所述缺陷沿被检不规则形状成形件纵向分布通过对检测图像的缺陷分割和缺陷细化获得,缺陷中心点的纵坐标即为缺陷沿其长度方向的纵向分布。