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专利号: 2020116352824
申请人: 西安理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种生物组织弹性模量测量装置,其特征在于,包括第一电源,所述第一电源连接第一半导体激光器,所述第一半导体激光器沿其光波的光轴方向依次设有第一偏振分光棱镜、第三偏振分光棱镜、四分之一波片、显微物镜和放有样品的位移台,所述第一偏振分光棱镜沿垂直于第一半导体激光器光波的光轴方向的左侧依次设有第二偏振分光棱镜、第二半导体激光器和第二电源,右侧设有第一光电探测器,所述第一光电探测器连接锁相放大器,所述锁相放大器连接电脑,所述第三偏振分光棱镜沿垂直于第一半导体激光器光波的光轴方向的左侧依次设有标准样品、分光棱镜和第二光电探测器,所述第二光电探测器连接锁相放大器,所述锁相放大器连接电脑,所述分光棱镜位于第二偏振分光棱镜的偏振光束上,所述第二偏振分光棱镜与分光棱镜之间设有单行器。

2.一种生物组织弹性模量测量方法,其特征在于:采用如权利要求1所述的一种生物组织弹性模量测量装置,具体按照以下步骤实施:步骤1、打开第一电源和第二电源,使得第一半导体激光器输出功率为10mW,线性调谐第二电源的电流,当第一半导体激光器和第二半导体激光器在第一光电探测器处形成拍波,且拍波频率ν拍小于1GHz时,停止调谐第二电源的电流;

步骤2、线性调节第二电源的输出电流,改变从第二半导体激光器出射激光的频率,记录第二光电探测器输出电压与第二电源电流的关系,当第二光电探测器输出电压最大时,记录第二半导体激光器频率变化量;

步骤3、计算被测样品的受激布里渊散射频移,然后再计算样品弹性模量;

步骤4、重复步骤1‑3,求取样品弹性模量的平均值;

步骤5、沿第一半导体激光器光波的光轴方向调整位移台,重复步骤1‑4。

3.根据权利要求2所述的一种生物组织弹性模量测量方法,其特征在于,所述步骤1中第二半导体激光器频率的调谐速率为0.2GHz/s。

4.根据权利要求2所述的一种生物组织弹性模量测量方法,其特征在于,所述步骤2中第二半导体激光器频率的调谐速率为0.2GHz/s。

5.根据权利要求2所述的一种生物组织弹性模量测量方法,其特征在于,所述步骤3中被测样品的受激布里渊散射频移νB为:νB=νb+Δν‑ν拍,其中,νb为标准样品的受激布里渊散射频移,Δν为第二半导体激光器频率变化量,ν拍为第一半导体激光器和第二半导体激光器在第一光电探测器处形成拍波频率。

6.根据权利要求5所述的一种生物组织弹性模量测量方法,其特征在于,所述步骤3中样品弹性模量E根据 计算,其中,ρ为样品的密度,n为样品折射率,θ为散射角。