1.一种传感器寿命测试装置，所述传感器包括磁性组件、总成电路板和用于固定所述总成电路板的外壳，所述磁性组件可转动地安装于所述外壳，所述磁性组件用于提供触发磁场，所述总成电路板根据所述触发磁场输出方波信号，其特征在于，所述传感器寿命测试装置包括：支架；

转轴，所述转轴可转动地设置于所述支架的一侧，所述转轴用于固定安装所述磁性组件；

固定组件，所述固定组件围绕所述转轴固定设置于所述支架上，所述固定组件用于固定安装所述外壳；以及

驱动装置，所述驱动装置设置于所述支架背离所述转轴的一侧并与所述转轴传动连接，所述驱动装置能够驱动所述转轴转动，所述转轴带动所述磁性组件相对于所述外壳转动，以测试所述传感器的使用寿命。

2.根据权利要求1所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述固定组件包括支撑部件、夹持部件和止挡部件，所述支撑部件设置于所述转轴下方，所述支撑部件的上侧设置有支撑槽，且所述支撑槽的一侧具有缺口；

所述夹持部件设置于所述转轴上方，所述夹持部件开设有与所述外壳的周向外缘相适配的卡槽，所述卡槽与所述支撑槽配合夹持所述外壳周向外缘的上下两侧，以限定所述外壳的轴向位置和竖直径向位置；

所述止挡部件可拆卸地安装于所述支撑部件的所述缺口处，所述止挡部件与所述支撑部件相配合夹持所述外壳周向边缘的下侧两侧，以限定所述外壳的水平径向位置，从而所述支撑部件、所述夹持部件和所述止挡部件相配合夹持固定所述外壳。

3.根据权利要求2所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述夹持部件上沿平行于所述转轴的方向设置有多个所述卡槽，所述支撑槽沿平行于所述转轴的方向延伸，所述止挡部件、所述支撑槽和所述夹持部件的长度与所述转轴的长度相匹配，所述固定组件能够夹持固定多个所述外壳。

4.根据权利要求2所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述固定组件还包括固定板，所述固定板上开设有转轴孔，所述支撑部件、所述夹持部件和所述止挡部件垂直固定连接于所述固定板，并围绕所述转轴孔间隔布置，所述固定板与所述支架可拆卸连接，以将所述固定组件可拆卸安装于所述支架，所述转轴的一端穿过所述转轴孔与所述驱动装置连接。

5.根据权利要求4所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述固定板上围绕所述转轴孔凸出设置有定位凸环，所述夹持部件紧邻所述定位凸环上侧，所述支撑部件紧邻所述定位凸环下侧，所述止挡部件可拆卸连接于所述固定板并紧邻所述定位凸环下侧。

6.根据权利要求4所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述支撑部件、所述止挡部件和所述夹持部件与所述固定板可拆卸连接，且所述传感器寿命测试装置包括具有不同支撑槽长度的多个所述支撑部件、具有不同长度的多个所述止挡部件和具有不同长度及卡槽大小的多个所述夹持部件，所述支撑部件、所述止挡部件和所述夹持部件在所述固定板上的安装位置能够调整，以使所述固定组件适于夹持固定不同外部轮廓和尺寸的所述外壳。

7.根据权利要求2所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述支撑槽的与所述缺口相对一侧的槽口设置槽口弧面，所述止挡部件设置有止挡弧面，且所述槽口弧面和所述止挡弧面与所述外壳的外周弧面相适配，以使所述支撑部件和所述止挡部件紧贴所述外壳的外周。

8.根据权利要求7所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述外壳包括环形主体和沿径向凸出于所述环形主体外周的总成电路板固定部，所述总成电路板固定部具有沿所述环形主体外周切向的线束口；

所述支撑槽的深度与所述总成电路板固定部的高度相适配，所述支撑部件在所述支撑槽的端部还设置有定位凸筋，所述定位凸筋凸出于所述支撑槽底部的高度与所述线束口的外径相适配；

所述止挡部件安装于所述支撑部件的所述缺口处，并与所述定位凸筋抵接，以在所述止挡部件与所述支撑部件之间形成用于容置所述线束口的预留空间。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述传感器寿命测试装置包括具有不同的长度和/或外径的多根所述转轴，且所述转轴与所述支架可拆卸连接，以更换不同的所述转轴。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述传感器寿命测试装置还包括控制组件，所述控制组件与所述驱动装置连接，所述控制组件用于控制所述驱动装置工作，以调控所述转轴的转速和/或转动方向。