1.一种半导体测试用探针座，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)通过卡接机构连接有探针座本体(3)，所述探针座本体(3)顶部固定连接有针杆(4)，所述针杆(4)顶部连接有针头(5)，所述底座(1)上设有降温机构。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试用探针座，其特征在于，所述针头(5)表面的底部固定连接有螺纹块，所述针杆(4)顶端的表面开设有螺纹槽，所述螺纹槽内侧壁与螺纹块外侧壁螺纹连接。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试用探针座，其特征在于，所述卡接机构包括两个对称的连接板(2)，所述探针座本体(3)两侧分别与连接板(2)相对一侧固定连接，两个所述连接板(2)均开设有限位槽(7)，所述底座(1)上开设有与限位槽(7)相适配的连接槽(6)，所述连接槽(6)与限位槽(7)通过连接机构连接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体测试用探针座，其特征在于，所述连接机构包括活动块(8)，所述活动块(8)上开设有收纳槽(9)，所述收纳槽(9)内底部固定连接有伸缩杆(10)，所述伸缩杆(10)远离收纳槽(9)的一端与连接槽(6)内底部固定连接，所述伸缩杆(10)外侧壁套设有复位弹簧(11)，所述复位弹簧(11)两端分别与连接槽(6)内底部以及活动块(8)外侧壁固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试用探针座，其特征在于，所述底座(1)顶部设有加热板(12)，所述加热板(12)位于探针座本体(3)底部与底座(1)顶部之间。

6.根据权利要求5所述的一种半导体测试用探针座，其特征在于，所述降温机构包括开设在底座(1)上的安装槽(13)，所述安装槽(13)内底部固定连接有驱动电机(14)，所述驱动电机(14)输出端固定连接有输出轴，所述输出轴外侧壁固定连接有多个吹风扇叶(15)，所述探针座本体(3)底部开设有连通腔(17)，所述加热板(12)上开设有与连通腔(17)相连通的连通口(16)，所述探针座本体(3)上开设有多个与连通腔(17)相连通的通风腔(18)。